| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-21页 |
| ·课题研究的背景和意义 | 第13-16页 |
| ·CCD扫描技术概论 | 第13-14页 |
| ·CCD扫描技术的主要应用领域 | 第14-15页 |
| ·课题研究的背景和意义 | 第15-16页 |
| ·国内外研究现状及发展方向 | 第16-18页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第18-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第二章 高分辨率线阵CCD光电检测关键技术研究与实现 | 第21-48页 |
| ·检测系统硬件的组成及原理 | 第21-22页 |
| ·光学系统设计 | 第22-26页 |
| ·成像系统设计 | 第22-24页 |
| ·照明系统设计 | 第24-26页 |
| ·高分辨率线阵CCD电荷耦合器件 | 第26-31页 |
| ·电荷耦合器件(CCD) | 第26-29页 |
| ·CCD驱动时序发生器 | 第29-30页 |
| ·影响线阵CCD模拟量输出的主要原因 | 第30-31页 |
| ·图像采集卡 | 第31-32页 |
| ·精密机械位移扫描装置及其驱动开发 | 第32-37页 |
| ·精密机械位移扫描装置硬件结构 | 第32-35页 |
| ·精密机械位移扫描装置关键技术研究与实现 | 第35-36页 |
| ·精密机械位移扫描软件的开发 | 第36-37页 |
| ·线阵CCD输出信号的采集、获取 | 第37-44页 |
| ·C++Builder调用VC编写的动态连接库 | 第37-39页 |
| ·图像显示的速度问题 | 第39-40页 |
| ·图像的量化 | 第40页 |
| ·像元补偿 | 第40-44页 |
| ·PCB图像显示程序 | 第44-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第三章 线阵CCD光电检测技术在PCB瑕疵检测中的应用 | 第48-81页 |
| ·PCB图像的特点 | 第50-51页 |
| ·图像滤波 | 第51-61页 |
| ·均值滤波 | 第52页 |
| ·中值滤波 | 第52-54页 |
| ·自适应中值—加权均值混合滤波器 | 第54-61页 |
| ·灰度变换 | 第61-62页 |
| ·直方图均衡化 | 第62-63页 |
| ·PCB图像二值化和阈值选取 | 第63-70页 |
| ·迭代阈值图像分割 | 第65-66页 |
| ·最大类间方差法(OSTU) | 第66-68页 |
| ·基于灰度等级处的OSTU动态阈值算法 | 第68-70页 |
| ·二值图像椒盐噪声的去除 | 第70页 |
| ·PCB图像识别 | 第70-80页 |
| ·模式识别方法概述 | 第70-72页 |
| ·PCB图像模式识别 | 第72-73页 |
| ·课题采用的模式识别方法 | 第73页 |
| ·数学形态学检测算法 | 第73-75页 |
| ·短路、断路缺陷的检测 | 第75-77页 |
| ·短路、断路缺陷的识别 | 第77-78页 |
| ·凸起的识别 | 第78-79页 |
| ·凹坑和空洞的识别 | 第79-80页 |
| ·本章小结 | 第80-81页 |
| 第四章 PCB图像瑕疵检测系统软硬件调试 | 第81-93页 |
| ·软件的主要界面操作 | 第83-85页 |
| ·软件的总体流程图 | 第85-90页 |
| ·PCB瑕疵图像检测与识别实例 | 第90-93页 |
| 结论 | 第93-95页 |
| 参考文献 | 第95-99页 |
| 独创性声明 | 第99-100页 |
| 攻读学位期间发表的论文 | 第100-101页 |
| 致谢 | 第101页 |