| 第1章 绪论 | 第1-26页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·微波介质陶瓷的研究现状及分类 | 第10-22页 |
| ·微波频段的划分 | 第10-11页 |
| ·微波介质陶瓷的主要性能要求 | 第11-12页 |
| ·微波介质陶瓷的研究发展 | 第12-13页 |
| ·微波介质陶瓷的研究现状及分类 | 第13-22页 |
| ·低ε_r的微波介质陶瓷 | 第13-15页 |
| ·超低介电损耗的微波介质陶瓷 | 第15-16页 |
| ·中等ε_r的微波介质陶瓷 | 第16-17页 |
| ·高εr的微波介质陶瓷 | 第17-22页 |
| ·微波介质陶瓷最近研究中的新体系 | 第22-25页 |
| ·本论文的研究内容、目的和意义 | 第25-26页 |
| 第2章 材料的制备与研究方法 | 第26-42页 |
| ·材料的设计 | 第26-29页 |
| ·容限因子 | 第26-27页 |
| ·电负性差 | 第27-29页 |
| ·材料的制备方法 | 第29-31页 |
| ·固相反应法 | 第29页 |
| ·化学共沉淀法 | 第29页 |
| ·溶胶—凝胶法 | 第29-30页 |
| ·有机盐水解反应法 | 第30页 |
| ·水热法 | 第30页 |
| ·等离子合成法 | 第30-31页 |
| ·气相反应法 | 第31页 |
| ·实验原料及设备 | 第31-32页 |
| ·材料的制备工艺过程 | 第32-38页 |
| ·配料计算 | 第32-33页 |
| ·备料工艺 | 第33页 |
| ·干压成型 | 第33-34页 |
| ·烧结 | 第34-38页 |
| ·表面处理 | 第38页 |
| ·材料的研究方法 | 第38-42页 |
| ·密度测量 | 第39页 |
| ·X射线衍射分析(XRD) | 第39页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM) | 第39-40页 |
| ·拉曼光谱分析 | 第40页 |
| ·低频介电性能测试 | 第40-41页 |
| ·微波介电性能测试 | 第41-42页 |
| 第3章 (Ba,La)_5(Ti,Ta)_4O_(15)体系陶瓷 | 第42-65页 |
| ·烧结性能分析 | 第42-43页 |
| ·XRD物相分析 | 第43-48页 |
| ·Ba_4LaTiTa_3O_(15)的XRD分析 | 第44-45页 |
| ·Ba_3La_2Ti_2Ta_2O_(15)的XRD分析 | 第45-46页 |
| ·Ba_2La_3Ti_3TaO_(15)的XRD分析 | 第46-48页 |
| ·Ba_(5-x)La_xTi_xTa_(4-x)O_(15)体系的XRD简析 | 第48页 |
| ·SEM显微结构分析 | 第48-49页 |
| ·拉曼光谱分析 | 第49-52页 |
| ·低频介电性能研究 | 第52-58页 |
| ·电介质极化原理 | 第52-54页 |
| ·介电损耗 | 第54-56页 |
| ·Ba_(5-x)La_xTi_xTa_(4-x)O_(15)的低频介电性能 | 第56-58页 |
| ·微波介电性能 | 第58-65页 |
| ·介电常数 | 第59页 |
| ·品质因子 | 第59-61页 |
| ·谐振频度温度系数 | 第61页 |
| ·计算值与测试值的比较 | 第61-63页 |
| ·B位键价分析 | 第63-65页 |
| 第4章 材料的改性研究 | 第65-71页 |
| ·烧结性能 | 第65-66页 |
| ·XRD分析 | 第66-67页 |
| ·SEM形貌分析 | 第67-69页 |
| ·Ba_3La_2Ti_2Nb_2O_(12)SEM形貌分析 | 第67-68页 |
| ·Ba_3La_2Ti_2Ta_2O_(12)SEM形貌分析 | 第68-69页 |
| ·微波介电性能 | 第69-71页 |
| 第5章 结论和展望 | 第71-73页 |
| ·结论 | 第71-72页 |
| ·展望 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 攻读硕士研究生期间论文发表情况 | 第84页 |
