电真空器件非工作状态长期贮存寿命评价研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 前言 | 第8-10页 |
| 第一章 电子器件的失效分析的一般模型 | 第10-23页 |
| 第一节 电子器件的可靠性和失效分布 | 第10-12页 |
| 第二节 电子器件常见的失效分布 | 第12-18页 |
| ·电子器件的失效规律 | 第12-13页 |
| ·威布尔分布 | 第13-15页 |
| ·指数分布 | 第15-16页 |
| ·正态分布 | 第16页 |
| ·对数指数分布 | 第16-18页 |
| 第三节 电子器件的失效模型 | 第18-21页 |
| ·反应论模型 | 第18-19页 |
| ·失效率模型 | 第19-20页 |
| ·其它模型 | 第20-21页 |
| 第四节 电子器件的失效分析程序 | 第21-23页 |
| 第二章 电真空器件失效分析 | 第23-31页 |
| 第一节 电真空器件的失效机理 | 第23-24页 |
| 第二节 电真空管内气体来源及压强的变化 | 第24-27页 |
| ·电真空器件管壁的漏气 | 第25-26页 |
| ·电真空器件管内零部件的出气 | 第26-27页 |
| ·管内气压的变化 | 第27页 |
| 第三节 电真空器件非工作寿命评价 | 第27-31页 |
| ·电真空器件非工作状态下的失效率 | 第27-28页 |
| ·电真空器件非工作状态下的偶然失效期 | 第28-31页 |
| 第三章 管内真空度的测量方法 | 第31-46页 |
| 第一节 离子流的大小与气体压强的关系 | 第31-34页 |
| 第二节 几种电真空器件的压强测量 | 第34-43页 |
| ·几种电真空器件测量的电原理图 | 第35-38页 |
| ·离子流的检测 | 第38-40页 |
| ·CRT 管内压强的测量 | 第40-43页 |
| 第三节 离子流的模拟和电离灵敏度的模拟计算 | 第43-46页 |
| 第四章 速调管结构及原理 | 第46-55页 |
| 第一节 速调管的原理 | 第46-51页 |
| ·速调管的工作原理 | 第46-48页 |
| ·速调管的主要应用 | 第48页 |
| ·速调管的发展趋势 | 第48-50页 |
| ·多注速调管的关键技术问题 | 第50-51页 |
| 第二节 多注速调管发射机的设计及采用的关键技术 | 第51-55页 |
| ·增益补偿技术 | 第51-52页 |
| ·浮动板调制器技术 | 第52页 |
| ·高压逆变电源多路并联技术 | 第52-53页 |
| ·撬棒保护和电弧保护技术 | 第53-54页 |
| ·液冷控制技术 | 第54-55页 |
| 第五章 速调管寿命评价 | 第55-65页 |
| 第一节 速调管在工作状态下寿命预示 | 第55-60页 |
| ·速调管寿命终结判断法及成因 | 第55-56页 |
| ·速调管失效预示模型 | 第56-60页 |
| 第二节 速调管在非工作状态下的寿命预示 | 第60-65页 |
| ·速调管的失效机理 | 第60页 |
| ·速调管真空度的测量 | 第60-63页 |
| ·长期贮存速调管的寿命评价 | 第63-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-68页 |
| 作者在读期间发表的论文清单 | 第68页 |
