基于ColdFire的引信电路测试仪的研制
| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-4页 |
| 目录 | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-10页 |
| ·课题来源及意义 | 第7页 |
| ·本论文的研究内容和预期目标 | 第7-8页 |
| ·研制测试系统所需的关键技术 | 第8-9页 |
| ·论文结构安排 | 第9-10页 |
| 第二章 引信电路测试仪概述 | 第10-17页 |
| ·激光引信的工作原理 | 第10-11页 |
| ·测试系统的硬件组成 | 第11-13页 |
| ·测试原理 | 第13-14页 |
| ·测试项目 | 第14页 |
| ·测试系统的软件组成 | 第14-15页 |
| ·本章小结 | 第15-17页 |
| 第三章 测试系统的设计方法与关键技术 | 第17-35页 |
| ·TOP-DOWN的设计方法 | 第17-18页 |
| ·微处理器技术 | 第18-25页 |
| ·微处理器选型 | 第18-19页 |
| ·MCF5206的结构及特点 | 第19-22页 |
| ·MCF5206的处理器状态 | 第22页 |
| ·MCF5206的编程模型和寄存器 | 第22-23页 |
| ·MCF5206的系统集成模块 | 第23-24页 |
| ·MCF5206的开发调试口 | 第24-25页 |
| ·存储器模块 | 第25-26页 |
| ·非易失存储器 | 第25-26页 |
| ·随机存储器 | 第26页 |
| ·键盘接口模块 | 第26-27页 |
| ·液晶显示模块 | 第27页 |
| ·仪器仪表 | 第27-29页 |
| ·电流表、电压表及电源 | 第27-28页 |
| ·数字示波器 | 第28-29页 |
| ·测试系统的开发工具 | 第29-33页 |
| ·电子电路设计软件Protel | 第29-30页 |
| ·嵌入式开发工具链GNU | 第30-31页 |
| ·在线调试器BDI2000 | 第31-33页 |
| ·本章小结 | 第33-35页 |
| 第四章 测试系统的硬件设计与实现 | 第35-61页 |
| ·控制板卡总体设计 | 第35-36页 |
| ·微处理器模块 | 第36-48页 |
| ·片选信号及其配置寄存器 | 第36-41页 |
| ·总线及总线控制信号 | 第41-45页 |
| ·通用I／O模块 | 第45-46页 |
| ·引脚分配寄存器 | 第46-48页 |
| ·存储器模块 | 第48-52页 |
| ·FLASH器件 | 第48-50页 |
| ·SRAM器件 | 第50-52页 |
| ·键盘接口模块 | 第52-57页 |
| ·液晶显示模块 | 第57-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 测试系统的软件设计与实现 | 第61-77页 |
| ·系统引导程序和启动过程 | 第61-62页 |
| ·引导程序BOOTLOADER的设计 | 第62-65页 |
| ·BOOTLOADER的操作模式和初始化 | 第63-64页 |
| ·BOOTLOADER结构分析及实现 | 第64-65页 |
| ·测试程序和接口程序的设计 | 第65-74页 |
| ·测试程序和接口程序的运行方式 | 第66页 |
| ·键盘接口程序 | 第66-68页 |
| ·液晶显示程序 | 第68-69页 |
| ·测试程序 | 第69-74页 |
| ·测试系统的工作流程 | 第74页 |
| ·基于BDI2000的控制板卡软件开发及调试 | 第74-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 第六章 总结与展望 | 第77-79页 |
| 发表学术论文 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-83页 |
