| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| ·前言 | 第10页 |
| ·万能试验机及其测控技术的国内外发展现状 | 第10-14页 |
| ·万能试验机的特点及发展现状 | 第10-13页 |
| ·万能试验机测控技术的国内外发展现状 | 第13-14页 |
| ·课题背景和研究意义 | 第14-16页 |
| ·课题背景 | 第14-15页 |
| ·研究意义 | 第15-16页 |
| ·本课题的研究内容 | 第16-17页 |
| 第二章 万能试验机测控系统总体方案设计 | 第17-26页 |
| ·引言 | 第17页 |
| ·电子万能试验机测控系统概述 | 第17-21页 |
| ·试验机测控系统简介 | 第17页 |
| ·试验机系统工作原理与测量参数 | 第17-21页 |
| ·试验机测控系统的方案设计 | 第21-23页 |
| ·系统总体结构 | 第21-22页 |
| ·系统组成单元的具体方案设计 | 第22-23页 |
| ·系统主要技术指标 | 第23页 |
| ·测控系统中ARM主控制器的功能分析 | 第23-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 基于ARM的万能试验机测控系统的嵌入式硬件设计 | 第26-55页 |
| ·引言 | 第26页 |
| ·ARM微处理器概述 | 第26-29页 |
| ·ARM微处理器的应用领域 | 第26-27页 |
| ·ARM微处理器的应用选型 | 第27-28页 |
| ·ARM7系列微处理器特点 | 第28-29页 |
| ·基于S3C44B0X微处理器的系统主控制器设计 | 第29-43页 |
| ·Samsung S3C44B0X微处理器简介 | 第29-32页 |
| ·基于S3C44B0X的系统主控制器硬件平台体系结构 | 第32-33页 |
| ·存储器扩展模块 | 第33-36页 |
| ·外围通用接口模块 | 第36-39页 |
| ·人机交互接口模块 | 第39-42页 |
| ·其它部分 | 第42-43页 |
| ·系统测量单元的硬件选型与电路设计 | 第43-50页 |
| ·传感器选型 | 第44-46页 |
| ·信号调理电路 | 第46-49页 |
| ·模数转换电路 | 第49-50页 |
| ·系统直流伺服驱动原理及ARM控制 | 第50-53页 |
| ·直流伺服驱动单元的工作原理 | 第50-52页 |
| ·直流伺服驱动单元的ARM控制 | 第52-53页 |
| ·系统硬件抗干扰设计的研究 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第四章 系统控制策略的研究 | 第55-69页 |
| ·引言 | 第55页 |
| ·系统控制对象简析 | 第55-56页 |
| ·直流电机伺服系统的数学模型 | 第56-58页 |
| ·滑模变结构控制策略的实现 | 第58-68页 |
| ·负载观测器的方法 | 第59-61页 |
| ·滑模变结构控制策略 | 第61-65页 |
| ·仿真研究与结果分析 | 第65-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 第五章 万能试验机测控系统的软件结构设计 | 第69-78页 |
| ·引言 | 第69页 |
| ·万能试验机测控软件的总体结构分析 | 第69-71页 |
| ·ARM主控制器的软件功能设计 | 第71-76页 |
| ·中断服务 | 第71-72页 |
| ·系统定时任务 | 第72页 |
| ·A／D采集 | 第72-73页 |
| ·I／O采集 | 第73-74页 |
| ·脉冲检测功能 | 第74页 |
| ·键盘扫描 | 第74-75页 |
| ·其它功能及控制器操作界面 | 第75-76页 |
| ·上位机软件系统的结构规划 | 第76-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 第六章 测控系统的调试与试验 | 第78-83页 |
| ·引言 | 第78页 |
| ·硬件调试及分析 | 第78-80页 |
| ·软件调试 | 第80-81页 |
| ·试验及结果 | 第81-82页 |
| ·本章小结 | 第82-83页 |
| 第七章 总结与展望 | 第83-85页 |
| ·论文总结 | 第83-84页 |
| ·后续展望 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-90页 |
| 附录1 | 第90-91页 |
| 附录2 | 第91-92页 |
| 致谢 | 第92-93页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第93页 |