| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·功率因数校正（PFC）问题的提出 | 第9-10页 |
| ·功率因数校正的意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状和发展趋势 | 第11-13页 |
| ·本文所作的工作 | 第13-15页 |
| 第二章 功率因数校正（PFC）的概述 | 第15-29页 |
| ·功率因数校正的基本理论 | 第15-17页 |
| ·功率因数的定义 | 第15-16页 |
| ·提高功率因数的方法 | 第16-17页 |
| ·有源功率因数校正原理 | 第17-22页 |
| ·功率因数校正中的基本变换 | 第17-18页 |
| ·有源功率因数校正（APFC）工作模式 | 第18-20页 |
| ·两种临界导电模式的控制方法及比较 | 第20-22页 |
| ·临界导通模式PFC电路基本特性 | 第22-29页 |
| ·临界导电模式 PFC Boost 开关变换器的输入电流 | 第22-25页 |
| ·临界导通模式的稳态分析 | 第25-29页 |
| 第三章 XW8201 芯片设计与仿真 | 第29-55页 |
| ·芯片设计背景 | 第29页 |
| ·XW8201 系统设计 | 第29-32页 |
| ·芯片功能描述和基本特点 | 第29-30页 |
| ·芯片的系统框图及工作原理 | 第30-32页 |
| ·XW8201 芯片的子模块设计与仿真验证 | 第32-55页 |
| ·欠压锁定模块 | 第32-36页 |
| ·多矢量误差放大器 | 第36-42页 |
| ·电源供电模块 | 第42-48页 |
| ·电流源电路 | 第48-52页 |
| ·THD优化电路 | 第52-55页 |
| 第四章 XW8201 系统设计及仿真结果 | 第55-63页 |
| ·XW8201 芯片的系统设计 | 第55-58页 |
| ·设计指标 | 第55页 |
| ·外围电路参数设计 | 第55-58页 |
| ·XW8201 芯片的系统仿真结果 | 第58-63页 |
| ·输出电压、输入电流和输入电压波形 | 第58-60页 |
| ·系统THD优化仿真波形 | 第60-61页 |
| ·系统逻辑仿真波形 | 第61-63页 |
| 第五章 结束语 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 研究成果 | 第70-71页 |