| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 第一章 概述 | 第11-34页 |
| ·同步辐射技术的发展 | 第11-18页 |
| ·引言 | 第11页 |
| ·同步辐射的发展 | 第11-12页 |
| ·同步辐射的基本装置 | 第12-13页 |
| ·同步辐射光源特性计算 | 第13-18页 |
| ·晶体对X射线的分光技术 | 第18-26页 |
| ·同步辐射光束线 | 第18页 |
| ·晶体对X射线的分光原理 | 第18-22页 |
| ·常用晶体的分光单元与机构 | 第22-26页 |
| ·同步辐射探测器 | 第26-27页 |
| ·论文的研究背景、意义以及论文的组成 | 第27-29页 |
| ·论文的背景意义 | 第27-28页 |
| ·论文的组成 | 第28-29页 |
| 参考文献 | 第29-34页 |
| 第二章 曲面切槽晶体单色器 | 第34-75页 |
| ·固定输出位置切槽晶体单色器(channel cut crystal)简介 | 第34-38页 |
| ·平面切槽晶体单色器 | 第34-35页 |
| ·平面+斜面切槽晶体单色器[4,5] | 第35-36页 |
| ·斜面+曲面切槽晶体单色器 | 第36-37页 |
| ·曲面+曲面切槽晶体单色器 | 第37-38页 |
| ·固定输出位置的曲面切槽晶体单色器的生成原理 | 第38-40页 |
| ·曲面切槽晶体模型的设计制作与精度测量 | 第40-48页 |
| ·NSRL-XAFS光束线简介 | 第40-42页 |
| ·NSRL曲面切槽晶体模型的设计 | 第42-45页 |
| ·晶体的加工及几何精度测量 | 第45-48页 |
| ·曲面切槽晶体对同步辐射光束衍射性能的分析计算与测量 | 第48-59页 |
| ·衍射性能分析 | 第48-51页 |
| ·曲面切槽晶体衍射性能的计算 | 第51-55页 |
| ·晶体衍射性能的实际测量 | 第55-57页 |
| ·晶体实际测量与理论计算的对比分析 | 第57-59页 |
| ·曲面切槽晶体热性能分析 | 第59-68页 |
| ·晶体热效应对于晶格的影响 | 第59-60页 |
| ·晶体热性能的模拟分析 | 第60-68页 |
| ·结论与改进 | 第68-72页 |
| ·结论 | 第68页 |
| ·改进 | 第68-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 第三章 十字斜扫描束流位置探测器的研制以及NSRL-Wiggler光源束流位置监测 | 第75-96页 |
| ·束流位置探测器简介 | 第75-79页 |
| ·丝状束流位置探测器 | 第75-77页 |
| ·刀片束流位置探测器 | 第77-78页 |
| ·薄膜束流位置探测器 | 第78-79页 |
| ·NSRL-XAFS光束线束流形状位置探测器研制 | 第79-85页 |
| ·束流形状位置探测器类型选择以及机构设计 | 第79-83页 |
| ·探测器的控制系统以及数据采集系统 | 第83-85页 |
| ·同步辐射XAFS光束线束流位置稳定性测量 | 第85-91页 |
| ·本章小结 | 第91-93页 |
| 参考文献 | 第93-96页 |
| 第四章 总结与展望 | 第96-101页 |
| ·论文总结 | 第96-97页 |
| ·课题的主要创新及贡献 | 第97-98页 |
| ·课题展望 | 第98-100页 |
| 参考文献 | 第100-101页 |
| 致谢 | 第101-103页 |
| 攻读博士期间发表的论文 | 第103-105页 |
