1553B总线故障模拟装置研制
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| ·课题研究的目的及意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·1553B 总线接口的研究现状 | 第11-12页 |
| ·1553B 总线有效性测试的研究现状 | 第12-13页 |
| ·论文主要研究内容 | 第13页 |
| ·本文结构 | 第13-15页 |
| 第2章 1553B 总线设备测试方法研究 | 第15-42页 |
| ·1553B 总线概述 | 第15-16页 |
| ·1553B 总线协议层次划分 | 第16-18页 |
| ·物理层测试项目分析 | 第18-23页 |
| ·1553B 总线数据编码 | 第18-19页 |
| ·1553B 字格式 | 第19-21页 |
| ·1553B 同步头编码 | 第21-23页 |
| ·奇校验 | 第23页 |
| ·数据链路层测试项目分析 | 第23-40页 |
| ·BC 发送有效命令字 | 第23-24页 |
| ·BC 正确地址域识别 | 第24-25页 |
| ·最小响应时间 | 第25-26页 |
| ·最小无响应超时时间 | 第26页 |
| ·无响应超时 | 第26-27页 |
| ·RT 对命令字的响应 | 第27-28页 |
| ·消息间隔 | 第28页 |
| ·更换有效指令字 | 第28-29页 |
| ·要求的方式命令 | 第29-30页 |
| ·数据环绕 | 第30页 |
| ·总线转换 | 第30-31页 |
| ·RT 地址唯一性 | 第31-32页 |
| ·BC 故障识别 | 第32-33页 |
| ·RT 故障识别 | 第33-34页 |
| ·RT-RT 消息故障注入 | 第34页 |
| ·BC 测试可选操作 | 第34-37页 |
| ·RT 测试可选操作 | 第37-40页 |
| ·测试实现方案 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第3章 硬件设计 | 第42-51页 |
| ·硬件电路总体设计方案 | 第42-44页 |
| ·1553B 接口设计 | 第44-45页 |
| ·PXI 接口设计 | 第45页 |
| ·FPGA 内部逻辑设计 | 第45-50页 |
| ·波形处理模块设计 | 第45-46页 |
| ·编解码器逻辑设计 | 第46-48页 |
| ·协议控制逻辑设计 | 第48-49页 |
| ·故障注入逻辑设计 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第4章 软件设计 | 第51-63页 |
| ·LabWindows/CVI 开发平台 | 第51-52页 |
| ·仪器驱动程序开发 | 第52-60页 |
| ·仪器寄存器配置 | 第52-58页 |
| ·仪器函数树规划 | 第58-59页 |
| ·驱动函数代码编写 | 第59-60页 |
| ·仪器软面板设计 | 第60-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第5章 故障模拟装置功能测试 | 第63-72页 |
| ·测试环境 | 第63-64页 |
| ·测试RT 模式下功能实现 | 第64-67页 |
| ·测试BC 模式下功能实现 | 第67-70页 |
| ·本章小结 | 第70-72页 |
| 结论 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
