| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第7-17页 |
| 1.1 引言 | 第7-9页 |
| 1.1.1 研究背景及意义 | 第7-8页 |
| 1.1.2 GEM探测器的基本结构与工作原理 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-15页 |
| 1.2.1 GEM探测器在光子探测领域的应用 | 第9-10页 |
| 1.2.2 GEM探测器在辐射成像领域的应用 | 第10-12页 |
| 1.2.3 GEM探测器在高能粒子探测领域的应用 | 第12-14页 |
| 1.2.4 GEM探测器的发展与展望 | 第14-15页 |
| 1.3 研究内容 | 第15-16页 |
| 1.3.1 研究目标 | 第15页 |
| 1.3.2 实验内容及预期目标 | 第15-16页 |
| 1.4 本章小结 | 第16-17页 |
| 第2章 计数型GEM探测器性能测试与研究 | 第17-30页 |
| 2.1 计数型GEM探测器制作 | 第17-19页 |
| 2.1.1 探测器腔室 | 第17-18页 |
| 2.1.2 探测器读出板 | 第18-19页 |
| 2.1.3 探测器高压供电 | 第19页 |
| 2.2 计数型GEM探测器测试 | 第19-28页 |
| 2.2.1 探测器电流刻度 | 第19-21页 |
| 2.2.2 探测器信号处理 | 第21-23页 |
| 2.2.3 K荧光光源 | 第23-24页 |
| 2.2.4 K荧光能谱测量 | 第24-25页 |
| 2.2.5 K荧光分布测量 | 第25-26页 |
| 2.2.6 K荧光注量率测试 | 第26-27页 |
| 2.2.7 探测器性能测试 | 第27-28页 |
| 2.3 本章小结 | 第28-30页 |
| 第3章 成像型GEM探测器性能测试与研究 | 第30-48页 |
| 3.1 成像型GEM探测器 | 第30-36页 |
| 3.1.1 探测器腔体 | 第30-31页 |
| 3.1.2 入射窗 | 第31-32页 |
| 3.1.3 信号读出板 | 第32-33页 |
| 3.1.4 高压供电 | 第33-34页 |
| 3.1.5 读出电子学系统 | 第34-35页 |
| 3.1.6 GEM探测器组装 | 第35-36页 |
| 3.2 成像型GEM探测器测试 | 第36-47页 |
| 3.2.1 坪曲线测试 | 第36-37页 |
| 3.2.2 X光机束斑初步测试 | 第37-38页 |
| 3.2.3 探测器成像实验 | 第38-41页 |
| 3.2.4 探测器位置分辨测试 | 第41-44页 |
| 3.2.5 探测器能量分辨测试 | 第44-45页 |
| 3.2.6 用探测器测试HXCF装置光斑 | 第45-46页 |
| 3.2.7 用探测器测试K荧光X射线辐射装置辐射野 | 第46-47页 |
| 3.3 本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 研究密闭式GEM探测器的意义与其制作方法 | 第48-51页 |
| 4.1 研究密闭式GEM探测器的意义 | 第48页 |
| 4.2 密闭式GEM探测器的制作及测试方法 | 第48-50页 |
| 4.2.1 密闭式GEM探测器腔室处理 | 第48-49页 |
| 4.2.2 密闭式GEM探测器组件选择和处理 | 第49-50页 |
| 4.2.3 密闭式GEM探测器的测试 | 第50页 |
| 4.3 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 总结 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 攻读硕士学位期间完成的论文 | 第57页 |