微波暗室测试系统软件研究与设计
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第8-11页 |
1.1 课题研究背景 | 第8页 |
1.2 国内外研究的现状 | 第8-9页 |
1.3 论文内容安排 | 第9-11页 |
第二章 天线测试相关背景知识介绍 | 第11-18页 |
2.1 天线测试的内容 | 第11-14页 |
2.1.1 方向图 | 第11-12页 |
2.1.2 半功率波束宽度 | 第12页 |
2.1.3 轴比 | 第12-13页 |
2.1.4 增益 | 第13-14页 |
2.2 天线辐射区的分类 | 第14-17页 |
2.2.1 近场测试 | 第15页 |
2.2.2 远场测试 | 第15-16页 |
2.2.3 紧缩场测试 | 第16-17页 |
2.3 本章小结 | 第17-18页 |
第三章 天线测试系统设计方案 | 第18-33页 |
3.1 转台系统与伺服系统 | 第19-25页 |
3.1.1 发射端与接收端转台 | 第19-20页 |
3.1.2 主控板 | 第20-22页 |
3.1.3 核心处理器 | 第22-23页 |
3.1.4 电机与电机驱动 | 第23-24页 |
3.1.5 码盘 | 第24-25页 |
3.2 测试仪器 | 第25-31页 |
3.2.1 频谱仪 | 第26页 |
3.2.2 信号源 | 第26-27页 |
3.2.3 仪器数据接口 | 第27-28页 |
3.2.4 虚拟仪器技术 | 第28-29页 |
3.2.5 程控仪器标准指令集SCPI | 第29-31页 |
3.3 控制软件 | 第31-32页 |
3.3.1 功能需求 | 第31页 |
3.3.2 模块设计 | 第31-32页 |
3.4 本章小结 | 第32-33页 |
第四章 控制软件设计与实现 | 第33-62页 |
4.1 开发环境搭建 | 第33-40页 |
4.1.1 Visual Studio | 第33-34页 |
4.1.2 微软基础类库MFC | 第34-36页 |
4.1.3 Keysight IO程序库套件 | 第36-37页 |
4.1.4 Access数据库 | 第37-38页 |
4.1.5 数据库连接技术 | 第38-39页 |
4.1.6 FTP服务器 | 第39-40页 |
4.2 主控界面 | 第40-42页 |
4.3 仪器控制模块 | 第42-47页 |
4.3.1 频谱仪控制 | 第43-46页 |
4.3.2 信号源控制 | 第46-47页 |
4.4 转台控制模块 | 第47-51页 |
4.4.1 串口通信模块 | 第49-50页 |
4.4.2 通信协议模块 | 第50-51页 |
4.5 测试模块 | 第51-58页 |
4.5.1 方位测试 | 第52-56页 |
4.5.2 圆极化测试 | 第56-57页 |
4.5.3 增益测试 | 第57-58页 |
4.6 数据库连接模块 | 第58-62页 |
第五章 总结与展望 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-65页 |
致谢 | 第65页 |