高精度时间间隔校准系统设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-20页 |
| 1.1 时间间隔测量及校准的背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 时间间隔测量方法概述 | 第12-16页 |
| 1.2.1 直接计数法 | 第12-13页 |
| 1.2.2 模拟内插法 | 第13-14页 |
| 1.2.3 延迟内插法(TDC) | 第14-15页 |
| 1.2.4 游标法 | 第15-16页 |
| 1.3 时间间隔校准方法概述 | 第16-17页 |
| 1.3.1 固定时间间隔测量法 | 第16-17页 |
| 1.3.2 互为标准测量法 | 第17页 |
| 1.4 时间间隔测量及校准国内外现状 | 第17-18页 |
| 1.5 本文研究的主要内容 | 第18-20页 |
| 第2章 时间间隔校准相关理论基础 | 第20-31页 |
| 2.1 双波长测量原理 | 第20-21页 |
| 2.2 导线传输延时 | 第21-22页 |
| 2.2.1 传输线模型 | 第21页 |
| 2.2.2 传播常数 | 第21-22页 |
| 2.3 最大似然检测理论 | 第22-25页 |
| 2.3.1 最大似然估计算法原理 | 第22-23页 |
| 2.3.2 正弦信号频率的最大似然估计 | 第23-24页 |
| 2.3.3 正弦信号相位的最大似然估计 | 第24-25页 |
| 2.4 最大似然估计算法精度验证 | 第25-28页 |
| 2.5 带通欠采样技术 | 第28-29页 |
| 2.6 锁相环原理 | 第29-30页 |
| 2.7 本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 系统硬件方案设计 | 第31-47页 |
| 3.1 硬件系统方案设计 | 第31-32页 |
| 3.2 时钟源模块 | 第32页 |
| 3.3 FPGA控制模块 | 第32-34页 |
| 3.3.1 FPGA芯片介绍 | 第32-33页 |
| 3.3.2 FPGA系统电路设计 | 第33-34页 |
| 3.4 锁相环模块设计与实现 | 第34-39页 |
| 3.4.1 ADF4360-8芯片介绍 | 第34-36页 |
| 3.4.2 ADF4360-8硬件电路设计 | 第36-37页 |
| 3.4.3 放大电路设计 | 第37页 |
| 3.4.4 LC低通滤波器设计 | 第37-39页 |
| 3.4.5 电压射随电路 | 第39页 |
| 3.5 ADC模块设计与实现 | 第39-42页 |
| 3.5.1 ADC前端驱动器 | 第39-40页 |
| 3.5.2 AD7357芯片介绍 | 第40-41页 |
| 3.5.3 AD7357原理图设计 | 第41-42页 |
| 3.6 USB传输模块设计与实现 | 第42-44页 |
| 3.6.1 USB 2.0简介 | 第42页 |
| 3.6.2 CY7C68013芯片介绍 | 第42-43页 |
| 3.6.3 CY7C68013芯片外围电路设计 | 第43-44页 |
| 3.7 SRAM模块设计与实现 | 第44-45页 |
| 3.7.1 IS61LV51216电路设计 | 第45页 |
| 3.8 本章小结 | 第45-47页 |
| 第4章 系统软件设计 | 第47-55页 |
| 4.1 软件系统流程图 | 第47-48页 |
| 4.2 CY7C68013驱动程序设计 | 第48-51页 |
| 4.2.1 FPGA控制驱动 | 第48页 |
| 4.2.2 EZ-USB固件程序设计 | 第48-49页 |
| 4.2.3 数据采集应用程序 | 第49-51页 |
| 4.3 模块驱动程序 | 第51-53页 |
| 4.3.1 信号源驱动设计 | 第51-52页 |
| 4.3.2 ADC驱动设计 | 第52-53页 |
| 4.3.3 SRAM驱动设计 | 第53页 |
| 4.4 最大似然估计算法实现 | 第53-54页 |
| 4.5 本章小结 | 第54-55页 |
| 第5章 系统整体测试与分析 | 第55-68页 |
| 5.1 系统概况及测试环境 | 第55-57页 |
| 5.2 误差分析 | 第57-59页 |
| 5.2.1 系统误差 | 第57-58页 |
| 5.2.2 随机误差 | 第58页 |
| 5.2.3 同轴线接口误差 | 第58-59页 |
| 5.3 系统噪声种类及抑制方法 | 第59-60页 |
| 5.3.1 电源噪声 | 第59页 |
| 5.3.2 PCB板噪声 | 第59-60页 |
| 5.4 信号完整性分析 | 第60-63页 |
| 5.5 系统指标测试 | 第63-65页 |
| 5.5.1 系统长时间稳定性测试 | 第63-64页 |
| 5.5.2 性能指标测试 | 第64-65页 |
| 5.6 多次插拔稳定性测试 | 第65-66页 |
| 5.7 系统不确定度测试 | 第66-67页 |
| 5.8 本章小结 | 第67-68页 |
| 结论 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
