| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 选题背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 钢结构传统无损检测方法 | 第11-12页 |
| 1.3 金属磁记忆检测技术 | 第12-15页 |
| 1.3.1 金属磁记忆检测技术特点 | 第12页 |
| 1.3.2 磁记忆检测技术的国内外发展现状 | 第12-14页 |
| 1.3.3 存在的问题 | 第14-15页 |
| 1.4 论文主要研究内容 | 第15-16页 |
| 2 金属磁记忆检测的基本理论 | 第16-25页 |
| 2.1 物质的磁性 | 第16-17页 |
| 2.1.1 物质磁性的分类 | 第16页 |
| 2.1.2 物质磁性的来源 | 第16-17页 |
| 2.2 磁机械效应 | 第17-19页 |
| 2.2.1 磁致伸缩效应 | 第17-18页 |
| 2.2.2 压磁效应 | 第18页 |
| 2.2.3 磁弹性效应 | 第18-19页 |
| 2.3 磁记忆检测的理论基础 | 第19-23页 |
| 2.3.1 地磁场 | 第19页 |
| 2.3.2 磁记忆效应 | 第19-20页 |
| 2.3.3 磁记忆检测机理模型 | 第20-22页 |
| 2.3.4 俄罗斯钢棒试验 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-25页 |
| 3 外界因素对磁记忆检测影响的研究 | 第25-40页 |
| 3.1 试验方法 | 第25-27页 |
| 3.1.1 试验材料 | 第25-26页 |
| 3.1.2 试验设备及仪器参数设置 | 第26-27页 |
| 3.1.3 试验方案 | 第27页 |
| 3.2 构件形状对磁记忆检测的影响 | 第27-28页 |
| 3.3 初始磁场对磁记忆检测的影响 | 第28-33页 |
| 3.3.1 试验分析 | 第29-31页 |
| 3.3.2 初始磁场的利用与抑制 | 第31-33页 |
| 3.4 提离高度对磁记忆检测的影响 | 第33-35页 |
| 3.5 在线与离线不同检测方式对磁记忆检测的影响 | 第35-36页 |
| 3.6 检测方向对磁记忆检测的影响 | 第36-38页 |
| 3.7 本章小结 | 第38-40页 |
| 4 磁记忆检测仪表征技术的研究 | 第40-63页 |
| 4.1 试验方法 | 第40-43页 |
| 4.1.1 试验材料 | 第40-42页 |
| 4.1.2 试验设备 | 第42页 |
| 4.1.3 试验方案 | 第42-43页 |
| 4.2 拉伸荷载下 Q345B 钢构件磁记忆表征 | 第43-53页 |
| 4.2.1 Q345B 拉伸试件的磁记忆检测 | 第43-50页 |
| 4.2.2 Q345B 试件在轴向拉应力作用下的磁记忆表征技术 | 第50-53页 |
| 4.3 弯曲荷载下 Q345B 钢构件磁记忆表征 | 第53-61页 |
| 4.3.1 Q345B 弯曲试件的磁记忆检测 | 第53-60页 |
| 4.3.2 Q345B 试件在弯曲应力作用下的磁记忆表征技术 | 第60-61页 |
| 4.4 本章小结 | 第61-63页 |
| 5 磁记忆检测仪元件及电路选型的技术问题研究 | 第63-74页 |
| 5.1 磁记忆检测仪的基本组成 | 第63页 |
| 5.2 磁敏探头 | 第63-69页 |
| 5.2.1 磁敏传感器的选择 | 第64-67页 |
| 5.2.2 信号检出电路 | 第67-68页 |
| 5.2.3 探头外壳 | 第68-69页 |
| 5.3 信号调理电路 | 第69-71页 |
| 5.3.1 滤波电路 | 第69-70页 |
| 5.3.2 放大电路 | 第70-71页 |
| 5.4 数字信号处理 | 第71-72页 |
| 5.4.1 A/D 转换 | 第71页 |
| 5.4.2 处理器 | 第71-72页 |
| 5.5 本章小结 | 第72-74页 |
| 6 结论与展望 | 第74-77页 |
| 6.1 本文研究的结论 | 第74-75页 |
| 6.2 存在的问题及后续研究的重点 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文情况 | 第84页 |