双线圈脉冲涡流测厚方法的研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 1 引言 | 第7-11页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第7-8页 |
| 1.2 国内外研究进展 | 第8-9页 |
| 1.2.1 国外进展 | 第8-9页 |
| 1.2.2 国内进展 | 第9页 |
| 1.3 设计要求及方案 | 第9页 |
| 1.4 本文内容结构 | 第9-10页 |
| 1.5 本章小结 | 第10-11页 |
| 2 脉冲涡流检测技术原理及应用 | 第11-17页 |
| 2.1 脉冲涡流测厚原理 | 第11-12页 |
| 2.2 传统脉冲涡流检测阻抗模型 | 第12-13页 |
| 2.3 双线圈脉冲涡流检测阻抗模型 | 第13-15页 |
| 2.4 时域特征值提取 | 第15-16页 |
| 2.5 本章小结 | 第16-17页 |
| 3 硬件模块设计 | 第17-27页 |
| 3.1 STM32F407 ARM | 第18页 |
| 3.2 电源模块 | 第18-19页 |
| 3.3 脉冲激励模块 | 第19-22页 |
| 3.4 线圈传感器模块 | 第22-23页 |
| 3.5 信号调理模块 | 第23-24页 |
| 3.6 通信模块 | 第24页 |
| 3.7 PCB板的设计 | 第24-25页 |
| 3.8 本章小结 | 第25-27页 |
| 4 软件模块设计 | 第27-37页 |
| 4.1 脉冲激励信号的产生和数据采集 | 第27-28页 |
| 4.2 STM32程序的编译及下载 | 第28-30页 |
| 4.3 信号处理部分 | 第30-35页 |
| 4.3.1 硬件处理 | 第30-31页 |
| 4.3.2 软件处理 | 第31-32页 |
| 4.3.3 差动曲线数据拟合 | 第32-35页 |
| 4.4 本章小结 | 第35-37页 |
| 5 实验结果与分析 | 第37-47页 |
| 5.1 实验测量装置 | 第37页 |
| 5.2 ARM核心板硬件调试 | 第37-38页 |
| 5.3 基于双线圈脉冲涡流测厚 | 第38-46页 |
| 5.3.1 消除提离效应 | 第40-41页 |
| 5.3.2 差动电压特征值的提取 | 第41页 |
| 5.3.3 厚度测量 | 第41-46页 |
| 5.4 实验误差与分析 | 第46页 |
| 5.5 本章小结 | 第46-47页 |
| 6 总结与展望 | 第47-49页 |
| 致谢 | 第49-51页 |
| 参考文献 | 第51-55页 |
| 附录 | 第55-56页 |
