宽频EMT的电路和信号处理研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 电学层析成像技术 | 第9-11页 |
| 1.1.1 电学层析成像技术基本原理 | 第9-10页 |
| 1.1.2 电学层析成像技术的发展及研究概况 | 第10-11页 |
| 1.2 电磁层析成像技术 | 第11-15页 |
| 1.2.1 电磁层析成像技术理论基础 | 第11-13页 |
| 1.2.2 电磁层析成像技术理论基础 | 第13-15页 |
| 1.3 本论文的研究内容和完成的主要工作 | 第15-16页 |
| 1.4 论文的组织结构 | 第16-17页 |
| 第二章 数字化电磁层析成像系统的数据采集单元 | 第17-27页 |
| 2.1 电学层析成像系统的数据采集处理单元 | 第17-18页 |
| 2.1.1 数据采集处理单元的功能简介 | 第17-18页 |
| 2.1.2 数据采集处理单元的设计思路 | 第18页 |
| 2.2 数字化EMT数据采集处理单元的硬件结构 | 第18-27页 |
| 2.2.1 总体系统结构 | 第18-20页 |
| 2.2.2 数据采集处理单元的控制流程 | 第20-22页 |
| 2.2.3 激励通道 | 第22-24页 |
| 2.2.4 数据采集处理通道 | 第24-27页 |
| 第三章 数字正交序列解调的仿真研究 | 第27-41页 |
| 3.1 数字正交序列解调的基本原理 | 第27-28页 |
| 3.2 解调信号与参考信号非同频情况下的误差分析 | 第28-32页 |
| 3.2.1 实验与仿真 | 第28-31页 |
| 3.2.2 实验结果小结 | 第31-32页 |
| 3.3 噪声环境下采样周期数对解调结果的影响 | 第32-36页 |
| 3.3.1 低频噪声干扰下的解调仿真实验 | 第32-33页 |
| 3.3.2 高频噪声干扰下的解调仿真实验 | 第33-35页 |
| 3.3.3 噪声环境下的正交解调仿真研究 | 第35-36页 |
| 3.4 频域解释 | 第36-39页 |
| 3.4.1 正交序列解调的数学意义 | 第36-37页 |
| 3.4.2 正交序列解调的频谱分析 | 第37-39页 |
| 3.5 小结 | 第39-41页 |
| 第四章 EMT硬件电路宽频下的调试与改进研究 | 第41-52页 |
| 4.1 外围硬件电路的仿真研究 | 第41-45页 |
| 4.1.1 数模转换 | 第41-44页 |
| 4.1.2 模数转换 | 第44-45页 |
| 4.2 外围硬件电路的工作性能实验 | 第45-52页 |
| 4.2.1 实验设计 | 第45-46页 |
| 4.2.2 实验结果与分析 | 第46-50页 |
| 4.2.3 小结 | 第50-52页 |
| 第五章 基于高频激励的前端采集电路设计 | 第52-66页 |
| 5.1 激励信号端 | 第52-56页 |
| 5.1.1 激励前端电路的设计实现 | 第52页 |
| 5.1.2 激励前端电路的设计实现 | 第52-54页 |
| 5.1.3 性能测试 | 第54-56页 |
| 5.2 测量信号端 | 第56-58页 |
| 5.2.1 测量前端电路的设计与实现 | 第56-57页 |
| 5.2.2 性能测试 | 第57-58页 |
| 5.3 高频激励测量实验 | 第58-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
