大面积位置灵敏型闪烁体中子探测器的制作与测试
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 引言 | 第8-11页 |
| 第1章 中子概述 | 第11-18页 |
| 1.1 中子的性质 | 第11-12页 |
| 1.2 中子源的类型 | 第12-13页 |
| 1.2.1 反应堆中子源 | 第12页 |
| 1.2.2 加速器中子源 | 第12-13页 |
| 1.2.3 同位素中子源 | 第13页 |
| 1.3 中子探测方法 | 第13-15页 |
| 1.3.1 核反冲法 | 第13-14页 |
| 1.3.2 核反应法 | 第14-15页 |
| 1.3.3 核裂变法 | 第15页 |
| 1.3.4 核活化法 | 第15页 |
| 1.4 中子探测器 | 第15-17页 |
| 1.4.1 气体中子探测器 | 第16页 |
| 1.4.2 半导体中子探测器 | 第16页 |
| 1.4.3 闪烁体中子探测器 | 第16-17页 |
| 1.5 本章小结 | 第17-18页 |
| 第2章 位置灵敏型闪烁体中子探测器的结构 | 第18-23页 |
| 2.1 探测器结构单元 | 第18-22页 |
| 2.1.1 双层闪烁体结构 | 第18-19页 |
| 2.1.2 光纤阵列 | 第19-21页 |
| 2.1.3 多阳极光电倍增管 | 第21页 |
| 2.1.4 电子学 | 第21-22页 |
| 2.2 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 探测器组件性能测试 | 第23-30页 |
| 3.1 波移光纤的检测与筛选 | 第23-27页 |
| 3.2.1 实验装置 | 第24页 |
| 3.2.2 结果与分析 | 第24-27页 |
| 3.2 光电倍增管检测 | 第27-28页 |
| 3.3 老化研究 | 第28-29页 |
| 3.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第4章 探测器的结构与制作 | 第30-35页 |
| 4.1 探测器的整体结构 | 第30-31页 |
| 4.2 制作部分 | 第31-34页 |
| 4.2.1 材料与结构 | 第31-32页 |
| 4.2.2 探测器的组装 | 第32-34页 |
| 4.3 本章小结 | 第34-35页 |
| 第5章 中子探测器性能检测与分析 | 第35-45页 |
| 5.1 ~(252)Cf中子源 | 第35-36页 |
| 5.2 反应堆中子束 | 第36页 |
| 5.3 中子探测器性能测试 | 第36-44页 |
| 5.3.1 中子本底检测分析 | 第36-37页 |
| 5.3.2 探测器自身本底 | 第37-38页 |
| 5.3.3 中子成像与位置分辨 | 第38-42页 |
| 5.3.4 探测器计数率 | 第42页 |
| 5.3.5 中子探测效率 | 第42-44页 |
| 5.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第6章 总结与展望 | 第45-47页 |
| 参考文献 | 第47-50页 |
| 致谢 | 第50-52页 |
| 发表文章 | 第52页 |
