| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第10-14页 |
| 1.1.1 KDP晶体的应用 | 第10-11页 |
| 1.1.2 KDP晶体的加工 | 第11-13页 |
| 1.1.3 KDP晶体的表面质量 | 第13-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-17页 |
| 1.2.1 KDP晶体表面质量检测的研究现状 | 第14-15页 |
| 1.2.2 纹理表面图像识别技术的研究现状 | 第15-16页 |
| 1.2.3 图像分类识别技术的研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 课题研究意义 | 第17-18页 |
| 1.4 课题主要研究内容 | 第18-20页 |
| 第二章 KDP晶体表面固体残留物与缺陷识别的图像预处理 | 第20-34页 |
| 2.1 图像灰度处理 | 第20-23页 |
| 2.1.1 图像灰度化 | 第20-21页 |
| 2.1.2 图像灰度变换 | 第21-23页 |
| 2.2 图像光照不均匀校正 | 第23-27页 |
| 2.3 图像去噪 | 第27-31页 |
| 2.3.1 图像滤波器 | 第27-28页 |
| 2.3.2 滤波结果分析 | 第28-31页 |
| 2.4 KDP晶体表面图像标定 | 第31-33页 |
| 2.5 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 KDP晶体表面切削纹理特征提取及去除算法 | 第34-59页 |
| 3.1 KDP晶体表面切削纹理主方向提取 | 第34-39页 |
| 3.1.1 基于图像列均值最大值曲线的纹理主方向计算 | 第34-36页 |
| 3.1.2 基于HT的纹理主方向计算 | 第36-39页 |
| 3.2 KDP晶体表面切削纹理平均间距提取 | 第39-44页 |
| 3.2.1 纹理灰度均值曲线的提取 | 第40-42页 |
| 3.2.2 纹理平均间距的计算 | 第42-44页 |
| 3.3 KDP晶体表面图像纹理去除 | 第44-48页 |
| 3.3.1 KDP晶体表面图像的傅里叶变换 | 第44-46页 |
| 3.3.2 纹理频域滤波及傅里叶逆变换 | 第46-47页 |
| 3.3.3 基于FT的KDP晶体表面纹理去除关键参数分析 | 第47-48页 |
| 3.4 KDP晶体表面图像切削纹理去除评价 | 第48-58页 |
| 3.4.1 灰度共生矩阵 | 第49-51页 |
| 3.4.2 灰度共生矩阵关键参数分析 | 第51-56页 |
| 3.4.3 纹理去除效果评价参数 | 第56-58页 |
| 3.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第四章 KDP晶体表面固体残留物与划痕缺陷识别算法 | 第59-73页 |
| 4.1 图像分割 | 第59-64页 |
| 4.1.1 基于二维Renyi熵的图像阈值分割 | 第59-62页 |
| 4.1.2 基于数学形态学处理的图像轮廓修整与边缘检测 | 第62-64页 |
| 4.2 基于Freeman链码的固体残留物与划痕识别 | 第64-70页 |
| 4.2.1 Freeman链码提取边缘曲率 | 第65-68页 |
| 4.2.2 划痕边缘直线段的检测 | 第68-69页 |
| 4.2.3 固体残留物与划痕的分类识别 | 第69-70页 |
| 4.3 KDP晶体表面划痕的精确处理 | 第70-72页 |
| 4.4 本章小结 | 第72-73页 |
| 第五章 KDP晶体表面固体残留物与缺陷检测系统设计 | 第73-85页 |
| 5.1 KDP晶体表面固体残留物与缺陷特征参数提取 | 第73-76页 |
| 5.1.1 固体残留物特征参数计算 | 第73页 |
| 5.1.2 划痕特征参数计算 | 第73-75页 |
| 5.1.3 切削纹理特征参数计算 | 第75-76页 |
| 5.2 KDP晶体表面图像识别系统设计 | 第76-80页 |
| 5.2.1 图像获取 | 第77页 |
| 5.2.2 系统软件设计 | 第77-80页 |
| 5.3 KDP晶体表面图像识别系统检测结果分析 | 第80-84页 |
| 5.4 本章小结 | 第84-85页 |
| 第六章 总结与展望 | 第85-87页 |
| 6.1 全文总结 | 第85-86页 |
| 6.2 展望 | 第86-87页 |
| 致谢 | 第87-88页 |
| 参考文献 | 第88-93页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第93-94页 |
