| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·选题背景 | 第10-11页 |
| ·无线电管理,无线电台检测,电磁环境测量简介 | 第11-13页 |
| ·无线电管理简介 | 第11页 |
| ·无线电检测定义 | 第11-12页 |
| ·电磁环境测试系统 | 第12-13页 |
| ·国内外研究现状和发展趋势 | 第13页 |
| ·意义 | 第13页 |
| ·研究内容和目标 | 第13-14页 |
| ·重点及创新点 | 第14-15页 |
| 第二章 电磁环境测量的构建 | 第15-27页 |
| ·电磁环境测量示意图 | 第15页 |
| ·频谱分析仪 | 第15-18页 |
| ·常见频谱分析仪结构分析 | 第15-16页 |
| ·与测量结果有关的频谱分析仪参数设置 | 第16-18页 |
| ·低噪声放大器 | 第18-19页 |
| ·天线选择和使用 | 第19-21页 |
| ·天线系数 | 第20页 |
| ·天线增益 | 第20页 |
| ·常用天线形式 | 第20-21页 |
| ·自动测试软件 | 第21-27页 |
| ·自动测试软件的功能需求 | 第21-22页 |
| ·自动测试系统的软件与硬件实现 | 第22-27页 |
| 第三章 电磁环境测量的灵敏度计算及误差分析 | 第27-38页 |
| ·灵敏度的决定因素 | 第27-32页 |
| ·表征单口网络噪声(噪声源)的参数 | 第27-28页 |
| ·双端口网络(放大器、混频器等)噪声的参数 | 第28-29页 |
| ·级联网络的噪声系数 | 第29-30页 |
| ·测试系统灵敏度计算方法 | 第30-32页 |
| ·较强信号测量可能产生的误差及解决方法 | 第32-36页 |
| ·假信号的产生及分类 | 第32-33页 |
| ·假信号的判断和解决方法 | 第33-35页 |
| ·带通滤波器的使用和选择 | 第35-36页 |
| ·电磁环境测试过程中干扰信号的测量 | 第36-38页 |
| ·干扰信号数量的确定 | 第36-37页 |
| ·干扰信号功率测量 | 第37-38页 |
| 第四章 无线电现场检测测量系统的构建 | 第38-72页 |
| ·基本的现场检测测量框图 | 第38页 |
| ·测试项目 | 第38页 |
| ·频谱分析仪参数设置 | 第38页 |
| ·GSM被测设备主要技术参数描述 | 第38页 |
| ·CDMA2000被测设备主要技术参数描述 | 第38页 |
| ·射频频率、发射功率、带宽测试设置 | 第38-50页 |
| ·幅度控制 | 第38-39页 |
| ·频率控制 | 第39-40页 |
| ·检测模式和对功率测量的影响 | 第40页 |
| ·影响RF仪器中频率精度的因素 | 第40-41页 |
| ·无线发射设备传导杂散测试 | 第41-50页 |
| ·自动检测测试系统设计实现 | 第50-57页 |
| ·开发环境与设计框图 | 第50-53页 |
| ·硬件控制驱动 | 第53-54页 |
| ·无线电设备自动检测系统组成 | 第54-56页 |
| ·测试衰减器、滤波器控制箱设计 | 第56-57页 |
| ·测量过程 | 第57页 |
| ·测试不确定度分析 | 第57-70页 |
| ·PHS基站测试项目不确定度 | 第57-62页 |
| ·TD-SCDMA基站测试项目不确定度 | 第62-70页 |
| ·典型测试结果 | 第70-72页 |
| 第五章 电磁环境测试用于微波设备和移动通信基站 | 第72-79页 |
| ·干扰成因 | 第72-73页 |
| ·基站和微波站间分析 | 第73-79页 |
| ·上行干扰的问题, | 第73-74页 |
| ·焦作WCDMA网络分析 | 第74-79页 |
| 第六章 通信基站的检测、电磁环境测试和干扰分析 | 第79-88页 |
| ·以TD-SCDMA为例,技术概述 | 第79页 |
| ·干扰原理 | 第79-81页 |
| ·PHS系统对TD-SCDMA系统的干扰原理 | 第79-80页 |
| ·干扰评估方程 | 第80-81页 |
| ·两站共存的最小耦合损耗计算 | 第81-83页 |
| ·最小耦合损耗计算 | 第81-82页 |
| ·两站共存的电磁兼容分析 | 第82-83页 |
| ·电磁环境实验 | 第83-84页 |
| ·PHS基站发射影响TD-SCDMA的电磁环境测试 | 第84-86页 |
| ·TD-SCDMA建站后的测量 | 第84页 |
| ·利用现有的PHS基站测试数据进行计算 | 第84-86页 |
| ·本章小结 | 第86-88页 |
| 第七章 结束语 | 第88-90页 |
| 参考文献 | 第90-92页 |
| 致谢 | 第92页 |