Q235B构件应力集中的磁记忆信号表征关系研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 主要符号表 | 第10-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-19页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第12-13页 |
| 1.2 研究现状 | 第13-17页 |
| 1.2.1 MMMT技术进展 | 第13-15页 |
| 1.2.2 评判依据研究 | 第15-16页 |
| 1.2.3 工程应用研究 | 第16-17页 |
| 1.3 研究内容 | 第17页 |
| 1.4 技术路线 | 第17-19页 |
| 第二章 金属磁记忆检测技术理论研究 | 第19-31页 |
| 2.1 磁记忆效应基本理论 | 第19-24页 |
| 2.1.1 铁磁效应的漏磁场理论 | 第19-20页 |
| 2.1.2 铁磁学能量平衡理论 | 第20-22页 |
| 2.1.3 微磁化磁导率变化理论 | 第22-24页 |
| 2.2 力-磁关系理论模型 | 第24-30页 |
| 2.2.1 磁偶极子模型 | 第24-27页 |
| 2.2.2 Jiles-Atherton模型 | 第27-30页 |
| 2.3 适用理论确定 | 第30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 检测方位与提离值设置研究 | 第31-42页 |
| 3.1 试验方案设计 | 第31-33页 |
| 3.1.1 试件设计 | 第31-32页 |
| 3.1.2 试验仪器 | 第32页 |
| 3.1.3 试验方案 | 第32-33页 |
| 3.2 检测方位对磁记忆信号的影响 | 第33-36页 |
| 3.2.1 试验结果分析 | 第34-36页 |
| 3.2.2 检测方位分析确定 | 第36页 |
| 3.3 提离值对磁记忆信号的影响 | 第36-41页 |
| 3.3.1 圆孔缺陷磁记忆信号理论分析 | 第36-38页 |
| 3.3.2 试验结果分析 | 第38-40页 |
| 3.3.3 提离值分析确定 | 第40-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 含圆孔缺陷平板磁记忆信号研究 | 第42-59页 |
| 4.1 数值实验方案设计 | 第42-44页 |
| 4.1.1 屈服准则 | 第42-43页 |
| 4.1.2 模型建立 | 第43-44页 |
| 4.1.3 网格划分 | 第44页 |
| 4.1.4 加载与求解 | 第44页 |
| 4.2 数值实验结果分析 | 第44-47页 |
| 4.2.1 等径变深圆孔平板 | 第44-46页 |
| 4.2.2 变径等深圆孔平板 | 第46-47页 |
| 4.3 拉伸试验方案设计 | 第47-49页 |
| 4.3.1 试件设计 | 第47-48页 |
| 4.3.2 试验仪器 | 第48页 |
| 4.3.3 试验方案 | 第48-49页 |
| 4.4 拉伸试验结果分析 | 第49-55页 |
| 4.4.1 等径变深圆孔试件 | 第49-51页 |
| 4.4.2 变径等深圆孔试件 | 第51-53页 |
| 4.4.3 等径等深圆孔试件 | 第53-55页 |
| 4.5 圆孔缺陷力-磁关系表征 | 第55-57页 |
| 4.6 本章小结 | 第57-59页 |
| 第五章 焊接接头磁记忆信号研究 | 第59-69页 |
| 5.1 试验方案设计 | 第59-61页 |
| 5.1.1 试验试件与仪器 | 第59-60页 |
| 5.1.2 试验方案 | 第60-61页 |
| 5.2 试验结果分析 | 第61-67页 |
| 5.2.1 热处理前磁记忆信号 | 第61-63页 |
| 5.2.2 热处理后磁记忆信号 | 第63-66页 |
| 5.2.3 热处理前后对比分析 | 第66-67页 |
| 5.3 本章小结 | 第67-69页 |
| 结论与展望 | 第69-71页 |
| 1 结论 | 第69页 |
| 2 展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-76页 |
| 攻读硕士期间取得的学术成果 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77页 |
