一种基于LDMOS器件的P波段功率放大器的理论与设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 研究背景及国内外研究动态 | 第9-11页 |
| 1.2 功率放大器设计面临的难题 | 第11-12页 |
| 1.3 论文的主要工作 | 第12-13页 |
| 第二章 器件概述 | 第13-21页 |
| 2.1 器件基本概述 | 第13-14页 |
| 2.2 LDMOS器件的工艺描述 | 第14-15页 |
| 2.2.1 离子注入工艺 | 第14-15页 |
| 2.2.2 高温工艺 | 第15页 |
| 2.2.3 金属化工艺 | 第15页 |
| 2.3 LDMOS器件的直流性能设计与模拟 | 第15-20页 |
| 2.4 小结 | 第20-21页 |
| 第三章 LDMOS功率器件的匹配设计 | 第21-29页 |
| 3.1 简介 | 第21-22页 |
| 3.2 器件内匹配设计和模拟 | 第22-25页 |
| 3.2.1 芯片阻抗的测量 | 第22-23页 |
| 3.2.2 内匹配电路的设计 | 第23-24页 |
| 3.2.3 管壳设计 | 第24-25页 |
| 3.3 器件可靠性设计 | 第25-27页 |
| 3.4 小结 | 第27-29页 |
| 第四章 功率放大器的设计 | 第29-40页 |
| 4.1 简介 | 第29页 |
| 4.2 设计目标与电路拓扑 | 第29-30页 |
| 4.3 放大器三级匹配网络的设计 | 第30-36页 |
| 4.3.1 放大器结构设计 | 第32页 |
| 4.3.2 一、二级放大器的电路设计 | 第32-33页 |
| 4.3.3 末级放大器的电路设计 | 第33-36页 |
| 4.4 放大器电路的稳定性 | 第36-38页 |
| 4.5 放大器可靠性设计 | 第38-39页 |
| 4.6 小结 | 第39-40页 |
| 第五章 内匹配功率放大器的测试与结果 | 第40-46页 |
| 5.1 放大器的测试方法与测试系统 | 第40-43页 |
| 5.1.1 放大器的测试参数 | 第41-42页 |
| 5.1.2 放大器的测试方法和系统 | 第42-43页 |
| 5.2 放大器的测试结果与分析 | 第43-45页 |
| 5.3 结论 | 第45-46页 |
| 总结 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-49页 |
| 学习期间发表的论文 | 第49-50页 |
| 学习期间参加的科研项目 | 第50-51页 |
| 致谢 | 第51页 |
