| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第9-11页 |
| 第一章 引言 | 第11-18页 |
| 1.1 选题依据及研究意义 | 第11-14页 |
| 1.1.1 土壤重金属来源广泛 | 第11-12页 |
| 1.1.2 土壤重金属污染的危害 | 第12-13页 |
| 1.1.3 土壤重金属的主要检测方法 | 第13-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-16页 |
| 1.2.1 X荧光分析技术在冶金和地质方面的应用 | 第15页 |
| 1.2.2 X荧光分析技术在食品安全方面的应用 | 第15-16页 |
| 1.2.3 X荧光分析技术在土壤重金属检测中的应用 | 第16页 |
| 1.3 研究内容与技术路线 | 第16-18页 |
| 第二章 XRF 光谱分析的理论基础 | 第18-28页 |
| 2.1 X 射线物理学基础 | 第18-20页 |
| 2.1.1 X射线的本质和定义 | 第18页 |
| 2.1.2 光电效应与特征 X 射线荧光的产生 | 第18-20页 |
| 2.2 X 荧光分析方程 | 第20-24页 |
| 2.2.1 定性分析的物理基础 | 第20-21页 |
| 2.2.2 定量分析的基本方程 | 第21-24页 |
| 2.3 X 荧光分析仪的工作原理 | 第24-28页 |
| 2.3.1 X射线管 | 第25-26页 |
| 2.3.2 分光系统 | 第26-27页 |
| 2.3.3 探测器 | 第27-28页 |
| 第三章 XRF 光谱测定条件的选取 | 第28-48页 |
| 3.1 实验样品 | 第28页 |
| 3.2 波长色散谱仪定量分析条件的选择 | 第28-34页 |
| 3.2.1 X光管的高压和电流的选择 | 第28-29页 |
| 3.2.2 角度的校正、背景的扣除和计数时间的确定 | 第29-33页 |
| 3.2.3 脉冲高度分析器 | 第33-34页 |
| 3.3 样品的制备及影响因素 | 第34-39页 |
| 3.3.1 样品制备方法及实验仪器 | 第34-37页 |
| 3.3.2 土壤样品饱和厚度的分析 | 第37-38页 |
| 3.3.3 土壤样品紧密度分析 | 第38-39页 |
| 3.4 校正曲线的建立 | 第39-48页 |
| 3.4.1 理论系数法 | 第41-42页 |
| 3.4.2 谱线重叠分析 | 第42-43页 |
| 3.4.3 基体效应干扰分析 | 第43-48页 |
| 第四章 土壤中重金属含量的 XRF 光谱分析 | 第48-59页 |
| 4.1 土壤样品的采集与处理 | 第48页 |
| 4.2 土壤样品的化学分析 | 第48-49页 |
| 4.3 方法评价 | 第49-52页 |
| 4.3.1 精密度分析 | 第49-50页 |
| 4.3.2 准确度评价 | 第50-51页 |
| 4.3.3 分析方法的检出限验证 | 第51-52页 |
| 4.4 结果与分析 | 第52-59页 |
| 4.4.1 X荧光分析法分析结果 | 第52-57页 |
| 4.4.2 误差分析 | 第57-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 在学习期间所取得的科研成果 | 第65页 |