| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-12页 |
| 1.1 全息技术 | 第7-9页 |
| 1.2 相干衍射成像技术 | 第9-11页 |
| 1.1.1 传统相干衍射成像 | 第9页 |
| 1.1.2 Ptychography 理论简介 | 第9-10页 |
| 1.1.3 PIE 及相关相干衍射成像的发展历程及研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第11-12页 |
| 第二章 PIE的相关理论 | 第12-19页 |
| 2.1 Ptychography 理论的发展历程 | 第12页 |
| 2.2 Ptychography 理论的特点 | 第12-13页 |
| 2.3 Ptychography 的定量分析 | 第13-17页 |
| 2.4 PIE 算法 | 第17-19页 |
| 第三章 基于 PIE 的显微镜的搭建 | 第19-27页 |
| 3.1 PIE 显微成像的光路和技术难点 | 第20-21页 |
| 3.1.1 PIE 显微成像的光路 | 第20页 |
| 3.1.2 PIE 显微成像的技术难点 | 第20-21页 |
| 3.2 实验仪器与设备 | 第21-22页 |
| 3.2.1 显微镜 | 第21页 |
| 3.2.2 扫描平移台和控制器 | 第21-22页 |
| 3.2.3 光源 | 第22页 |
| 3.2.4 CCD 相机 | 第22页 |
| 3.3 实验光路的搭建 | 第22-23页 |
| 3.4 自动采集数据的实现 | 第23-24页 |
| 3.5 数据采集和相位恢复 | 第24-25页 |
| 3.6 本章小结 | 第25-27页 |
| 第四章 通过空间相关算法纠正 PIE 透射显微成像中的位置误差 | 第27-33页 |
| 4.1 空间相关算法 | 第28-29页 |
| 4.2 实验验证 | 第29-32页 |
| 4.3 本章小结 | 第32-33页 |
| 第五章 关于轴向距离误差对 PIE 成像质量影响的研究 | 第33-41页 |
| 5.1 轴向距离误差的理论分析 | 第33-34页 |
| 5.2 位置搜索下的 ePIE 算法对轴向距离误差的矫正效果 | 第34-37页 |
| 5.3 轴向距离误差矫正的实验验证 | 第37-40页 |
| 5.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 主要结论与展望 | 第41-43页 |
| 主要研究成果与结论 | 第41页 |
| 工作展望 | 第41-43页 |
| 致谢 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-48页 |
| 附录:作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第48页 |
