| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 概述 | 第10-11页 |
| 1.2 研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.4 论文的主要工作 | 第13-16页 |
| 第二章 向量VLIW处理器寄存器溢出处理基础 | 第16-30页 |
| 2.1 图着色寄存器分配 | 第16-24页 |
| 2.1.1 图着色基本原理 | 第16-17页 |
| 2.1.2 图着色寄存器分配的控制流和数据流信息 | 第17-19页 |
| 2.1.3 图着色寄存器分配算法 | 第19-24页 |
| 2.2 寄存器溢出问题介绍 | 第24-25页 |
| 2.2.1 寄存器溢出的产生原因 | 第24页 |
| 2.2.2 寄存器溢出完成的工作 | 第24页 |
| 2.2.3 寄存器溢出带来的影响 | 第24-25页 |
| 2.3 向量VLIW处理器寄存器溢出处理分析 | 第25页 |
| 2.4 向量VLIW处理器介绍 | 第25页 |
| 2.5 向量VLIW处理器的寄存器资源分析 | 第25-26页 |
| 2.6 向量VLIW处理器的寄存器资源使用状况分析 | 第26页 |
| 2.7 网的溢出代价计算方法 | 第26-27页 |
| 2.8 寄存器溢出处理优化的收益计算方法 | 第27页 |
| 2.9 向量VLIW处理器寄存器溢出问题的特殊性 | 第27-28页 |
| 2.10 本章小结 | 第28-30页 |
| 第三章 复写指令优化 | 第30-44页 |
| 3.1 问题分析 | 第30-32页 |
| 3.2 优化方法 | 第32-39页 |
| 3.2.1 顶层控制结构 | 第32页 |
| 3.2.2 查找复写指令 | 第32-34页 |
| 3.2.3 溢出地址偏移量的设置 | 第34-38页 |
| 3.2.4 删除多余指令 | 第38-39页 |
| 3.3 实例验证 | 第39-43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 循环中的使用恢复或定值溢出优化 | 第44-56页 |
| 4.1 问题分析 | 第44-46页 |
| 4.2 优化方法 | 第46-51页 |
| 4.2.1 顶层控制结构 | 第46-48页 |
| 4.2.2 查找循环中待溢出网的定值或使用 | 第48-49页 |
| 4.2.3 判断定值溢出或使用恢复能否被优化 | 第49-51页 |
| 4.3 实例验证 | 第51-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-56页 |
| 第五章 溢出数据的存放方法优化 | 第56-74页 |
| 5.1 问题分析 | 第56-58页 |
| 5.2 优化方法 | 第58-67页 |
| 5.2.1 顶层控制结构 | 第58-60页 |
| 5.2.2 查找所有待溢出网 | 第60-61页 |
| 5.2.3 建立待溢出网邻接矩阵 | 第61-63页 |
| 5.2.4 建立待溢出网邻接表 | 第63-64页 |
| 5.2.5 修剪待溢出网的冲突图 | 第64-65页 |
| 5.2.6 给待溢出网指派存储单元 | 第65-66页 |
| 5.2.7 插入溢出代码 | 第66-67页 |
| 5.3 实例验证 | 第67-72页 |
| 5.4 本章小结 | 第72-74页 |
| 第六章 总结与展望 | 第74-76页 |
| 6.1 总结 | 第74-75页 |
| 6.2 展望 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 附录A 攻读学位期间获得的学术成果 | 第81-82页 |
| 附录B 攻读学位期间参与的科研项目 | 第82页 |