新型伪随机光电编码器芯片的研究与设计
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-15页 |
1.1 概述 | 第9-10页 |
1.2 编码器国内外发展动态 | 第10-13页 |
1.2.1 研究历史及现状 | 第10-12页 |
1.2.2 发展趋势 | 第12-13页 |
1.3 研究背景及意义 | 第13-14页 |
1.4 论文的内容及组织结构 | 第14-15页 |
1.4.1 论文的主要内容 | 第14页 |
1.4.2 论文的组织结构 | 第14-15页 |
第2章 新型伪随机编码器理论基础与系统设计 | 第15-25页 |
2.1 新型伪随机编码理论 | 第15-20页 |
2.1.1 摩尔条纹理论基础 | 第16-18页 |
2.1.2 伪随机编码理论设计 | 第18-20页 |
2.2 编码器结构设计 | 第20-25页 |
2.2.1 光电编码器码盘系统设计 | 第20-22页 |
2.2.2 光电编码器光学系统设计 | 第22-23页 |
2.2.3 光电编码器轴系设计 | 第23-25页 |
第3章 新型伪随机编码器芯片的设计 | 第25-44页 |
3.1 芯片架构 | 第25-26页 |
3.2 芯片各功能模块设计 | 第26-39页 |
3.2.1 光电二极管阵列设计 | 第26-28页 |
3.2.2 可编程增益放大器设计 | 第28-31页 |
3.2.3 M码二极管阵列读出电路设计 | 第31-33页 |
3.2.4 四倍频电路设计 | 第33-34页 |
3.2.5 细分ADC设计 | 第34-36页 |
3.2.6 偏置电路设计 | 第36-37页 |
3.2.7 配置模块设计 | 第37-39页 |
3.3 芯片版图设计及仿真结果 | 第39-44页 |
3.3.1 芯片版图设计 | 第39-43页 |
3.3.2 芯片整体仿真 | 第43-44页 |
第4章 芯片的测试与分析 | 第44-54页 |
4.1 光电编码器芯片测试系统设计 | 第44-50页 |
4.1.1 测试系统硬件设计 | 第44-47页 |
4.1.2 测试系统驱动设计 | 第47-48页 |
4.1.3 测试系统搭建 | 第48-50页 |
4.2 芯片测试结果 | 第50-52页 |
4.3 芯片测试分析 | 第52-54页 |
第5章 总结及展望 | 第54-55页 |
参考文献 | 第55-58页 |
作者简介及科研成果 | 第58-59页 |
致谢 | 第59页 |