基于参数排序空间的粉末衍射晶体结构精修自动化方法研究
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| 1.1 课题来源 | 第10页 |
| 1.2 课题研究的目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.3 国内外研究概况 | 第11-12页 |
| 1.4 论文的主要研究内容 | 第12-13页 |
| 第二章 晶体结构精修基本理论 | 第13-28页 |
| 2.1 Rietveld精修方法 | 第13-22页 |
| 2.1.1 Rietveld精修方法发展概述 | 第13-14页 |
| 2.1.2 Rietveld精修方法的原理 | 第14-18页 |
| 2.1.3 Rietveld精修求解过程 | 第18-19页 |
| 2.1.4 拟合优劣的判别因子 | 第19-20页 |
| 2.1.5 Rietveld精修步骤 | 第20-22页 |
| 2.2 Fullprof精修软件 | 第22-27页 |
| 2.2.1 Fullprof软件简介 | 第22-23页 |
| 2.2.2 Fullprof软件工作机制 | 第23-26页 |
| 2.2.3 Fullprof软件可视化操作界面 | 第26页 |
| 2.2.4 控制台运行模式“fp2k.exe” | 第26-27页 |
| 2.3 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 晶体结构精修自动化方法 | 第28-38页 |
| 3.1 自动化精修的突破方向 | 第28-29页 |
| 3.2 Fullprof传统手工精修 | 第29-31页 |
| 3.2.1 晶体参数空间 | 第29页 |
| 3.2.2 手工精修策略 | 第29-31页 |
| 3.3 参数精修顺序的重要性 | 第31-32页 |
| 3.4 Fullprof黑箱模型 | 第32-33页 |
| 3.4.1 黑箱模型简介 | 第32页 |
| 3.4.2 Fullprof黑箱模型的建立 | 第32-33页 |
| 3.5 晶体结构精修自动化方法实现 | 第33-37页 |
| 3.5.1 晶体参数排序空间 | 第33-34页 |
| 3.5.2 一种参数组精修顺序的自动化精修 | 第34-35页 |
| 3.5.3 最优R_(wp)值搜索算法 | 第35-37页 |
| 3.6 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 晶体结构精修自动化辅助系统 | 第38-44页 |
| 4.1 “pcr”文件自动化处理 | 第38-41页 |
| 4.1.1 “pcr”文件格式 | 第38-39页 |
| 4.1.2 “pcr”文件自动化处理实现 | 第39-41页 |
| 4.2 精修自动化辅助系统实现 | 第41-43页 |
| 4.2.1 精修自动化辅助系统架构 | 第41页 |
| 4.2.2 精修自动化辅助系统面向对象实现 | 第41-43页 |
| 4.3 本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 晶体结构精修自动化方法应用实例 | 第44-52页 |
| 5.1 实验数据 | 第44页 |
| 5.2 实验结果 | 第44-51页 |
| 5.2.1 R_(wp)值随精修步变化图 | 第44-47页 |
| 5.2.2 全谱拟合图 | 第47-51页 |
| 5.3 实验结果分析与结论 | 第51页 |
| 5.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 第六章 结论与展望 | 第52-54页 |
| 6.1 结论 | 第52-53页 |
| 6.2 展望 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 作者在攻读硕士学位期间公开发表的论文 | 第58-59页 |
| 作者在攻读硕士学位期间所作的项目 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
