基于RRAM的DMA模式的测试系统设计
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8-10页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第10页 |
| 1.3 本文的研究内容和章节安排 | 第10-12页 |
| 第二章 RRAM及其DMA模式测试系统 | 第12-27页 |
| 2.1 RRAM器件 | 第12-13页 |
| 2.2 RRAM单元及阵列 | 第13-15页 |
| 2.3 RRNM芯片在DMA模式下的测试方法 | 第15-18页 |
| 2.4 DMA模式测试系统说明 | 第18-26页 |
| 2.4.1 测试系统的整体结构 | 第18-20页 |
| 2.4.2 测试系统的通信协议与测试流程 | 第20-23页 |
| 2.4.2.1 通信协议 | 第20-21页 |
| 2.4.2.2 测试流程 | 第21-23页 |
| 2.4.3 测试系统的FPGA架构 | 第23-25页 |
| 2.4.4 开发环境 | 第25-26页 |
| 2.5 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 测试系统的FPGA数字模块设计 | 第27-44页 |
| 3.1 时钟产生模块设计 | 第27页 |
| 3.2 通信模块的设计 | 第27-36页 |
| 3.2.1 串口收发模块 | 第29-31页 |
| 3.2.2 数据转换模块 | 第31页 |
| 3.2.3 数据分流模块 | 第31-36页 |
| 3.3 发送模块的设计 | 第36-38页 |
| 3.4 系统控制模块的设计 | 第38-43页 |
| 3.4.1 寄存器定义 | 第38-40页 |
| 3.4.2 系统控制模块的实现 | 第40-43页 |
| 3.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 直流测量电路设计 | 第44-67页 |
| 4.1 直流测量电路 | 第44-45页 |
| 4.2 参数测量单元AD5522 | 第45-54页 |
| 4.2.1 AD5522内部DAC和寄存器 | 第46-51页 |
| 4.2.2 AD5522的工作模式 | 第51-53页 |
| 4.2.3 AD5522的操作时序 | 第53-54页 |
| 4.3 AD5522的FPGA控制模块设计 | 第54-60页 |
| 4.4 AD7685芯片 | 第60-64页 |
| 4.4.1 AD7685工作模式 | 第62-63页 |
| 4.4.2 AD7685的操作时序 | 第63-64页 |
| 4.5 AD7685的FPGA控制模块设计 | 第64-66页 |
| 4.6 本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 测试结果与分析 | 第67-79页 |
| 5.1 测试板的介绍 | 第67-71页 |
| 5.2 AD5522芯片的调试 | 第71-76页 |
| 5.2.1 FIMV功能的验证 | 第72-74页 |
| 5.2.2 FVMI功能的验证 | 第74-76页 |
| 5.3 AD7685的调试 | 第76-78页 |
| 5.4 本章小结 | 第78-79页 |
| 第六章 总结与展望 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-84页 |
| 图表目录 | 第84-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
