| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 引言 | 第9-18页 |
| 1.1 研究背景 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究现状分析 | 第9-16页 |
| 1.3 论文的主要内容安排 | 第16-18页 |
| 第2章 RF CMOS片上螺旋电感 | 第18-29页 |
| 2.1 电感在电路中的应用 | 第18-19页 |
| 2.2 电感的基础知识 | 第19-24页 |
| 2.2.1 电感的定义 | 第19页 |
| 2.2.2 自谐振频率 | 第19页 |
| 2.2.3 品质因数 | 第19-20页 |
| 2.2.4 有效串联电感 | 第20-22页 |
| 2.2.5 有效串联电阻 | 第22-24页 |
| 2.3 片上螺旋电感 | 第24-25页 |
| 2.4 片上螺旋电感的损耗机制 | 第25-28页 |
| 2.4.1 金属导体损耗 | 第25-27页 |
| 2.4.2 衬底损耗 | 第27-28页 |
| 2.4.3 辐射损耗 | 第28页 |
| 2.4.4 自热效应 | 第28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 片上螺旋电感的性能仿真分析与设计方法 | 第29-41页 |
| 3.1 仿真及绘图软件简介 | 第29页 |
| 3.2 结构参数对 3D电感性能影响的仿真分析 | 第29-37页 |
| 3.2.1 线圈匝数N对电感性能的影响 | 第31-32页 |
| 3.2.2 电感线圈间距S对电感性能的影响 | 第32-33页 |
| 3.2.3 电感线圈宽度W对电感性能的影响 | 第33-35页 |
| 3.2.4 线圈内半径R_(in)对电感性能的影响 | 第35-36页 |
| 3.2.5 线圈厚度t对电感性能的影响 | 第36-37页 |
| 3.3 工艺设计参数对 3D电感性能影响的仿真分析 | 第37-39页 |
| 3.3.1 衬底电阻率对电感性能的影响 | 第37-38页 |
| 3.3.2 氧化层厚度对电感性能的影响 | 第38-39页 |
| 3.4 片上螺旋电感的设计方法 | 第39-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 新型单 π 模型的提出、参数提取及性能仿真验证 | 第41-57页 |
| 4.1 改进型电感单 π 模型 | 第41-48页 |
| 4.1.1 改进型单 π 模型的提出 | 第41-42页 |
| 4.1.2 片上螺旋电感的三维建模 | 第42-43页 |
| 4.1.3 模型元件参数的提取 | 第43-45页 |
| 4.1.4 改进型单 π 模型的性能仿真验证 | 第45-48页 |
| 4.2 增强型电感单 π 模型 | 第48-54页 |
| 4.2.1 增强型单 π 模型的提出 | 第48页 |
| 4.2.2 增强型单 π 模型参数的提取 | 第48-50页 |
| 4.2.3 增强型单 π 模型性能仿真及验证 | 第50-54页 |
| 4.3 改进型、增强型单 π 模型的性能仿真对比 | 第54-56页 |
| 4.4 本章小结 | 第56-57页 |
| 第5章 总结与展望 | 第57-60页 |
| 5.1 总结 | 第57-58页 |
| 5.2 展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 在校期间发表学术论文与研究成果 | 第65页 |
