发射光谱仪中光谱干扰校正方法的应用和研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·课题研究的背景和意义 | 第10-11页 |
| ·课题研究的现状 | 第11-12页 |
| ·本论文的主要工作 | 第12-14页 |
| 第二章 ICP 发射光谱仪的原理及干扰分析 | 第14-29页 |
| ·ICP 发射光谱仪工作原理 | 第14-16页 |
| ·ICP 发射光谱仪中存在的干扰来源 | 第16-22页 |
| ·非光谱干扰的来源 | 第17-18页 |
| ·光谱干扰的来源 | 第18-22页 |
| ·光谱干扰校正的必要性 | 第22页 |
| ·常用谱线分析算法归纳 | 第22-27页 |
| ·传统的谱线分析方法 | 第23-25页 |
| ·传统方法的改进方法 | 第25-27页 |
| ·小结 | 第27-29页 |
| 第三章 Kalman 滤波算法用于谱线校正 | 第29-44页 |
| ·算法原理 | 第29-31页 |
| ·算法的稳定性和误差分析 | 第31-32页 |
| ·试验及结果分析 | 第32-43页 |
| ·消噪声特性的试验 | 第32-33页 |
| ·扣背景能力的试验 | 第33-37页 |
| ·校正谱线重叠能力的试验 | 第37-39页 |
| ·校正谱线漂移能力的试验 | 第39-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 第四章 快速谱线分析算法用于谱线校正 | 第44-51页 |
| ·算法原理 | 第44-45页 |
| ·试验及结果分析 | 第45-50页 |
| ·两峰间距对计算精度的影响 | 第45-46页 |
| ·干扰峰与待测峰强度比对计算精度的影响 | 第46-47页 |
| ·干扰峰与待测峰半高宽度比对计算精度的影响 | 第47页 |
| ·扣背景能力 | 第47-50页 |
| ·小结 | 第50-51页 |
| 第五章 基于谱数据增强的高斯拟合算法用于谱线校正 | 第51-62页 |
| ·算法原理 | 第51-55页 |
| ·谱数据增强算法的原理 | 第51-52页 |
| ·高斯拟合算法的原理 | 第52-55页 |
| ·试验及结果分析 | 第55-61页 |
| ·谱数据增强算法用于增强数据分辨率的试验 | 第55-56页 |
| ·高斯拟合算法用于单峰拟合的试验 | 第56-58页 |
| ·高斯拟合算法用于二峰分离的试验 | 第58-59页 |
| ·高斯拟合算法用于三峰分离的试验 | 第59-61页 |
| ·小结 | 第61-62页 |
| 第六章 三种算法的性能分析 | 第62-64页 |
| ·Kalman 滤波算法 | 第62页 |
| ·快速谱线分析算法 | 第62-63页 |
| ·基于谱数据增强的高斯拟合算法 | 第63-64页 |
| 第七章 总结与展望 | 第64-65页 |
| ·工作总结 | 第64页 |
| ·展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 附录 | 第70-71页 |
| 详细摘要 | 第71-78页 |
