摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-7页 |
第1章 绪论 | 第7-10页 |
·扰动磁场检测技术简介及研究的意义 | 第7-8页 |
·扰动磁场检测技术的国内外研究现状和发展 | 第8-9页 |
·主要研究内容 | 第9页 |
·本章小结 | 第9-10页 |
第2章 扰动磁场检测技术原理及其数学模型 | 第10-16页 |
·扰动磁场检测技术的原理 | 第10-12页 |
·扰动磁场检测技术的数学模型 | 第12-15页 |
·本章小结 | 第15-16页 |
第3章 扰动磁场检测仪硬件电路设计 | 第16-52页 |
·扰动磁场检测仪器整体概述 | 第16-17页 |
·检测仪器探头设计 | 第17-25页 |
·高性能磁敏传感器的选择 | 第17-23页 |
·检测探头激励线圈和结构的设计 | 第23-24页 |
·数字编码器 | 第24-25页 |
·扰动磁场检测仪前端电路的设计 | 第25-36页 |
·前端电路的整体结构 | 第25-26页 |
·扰动磁场检测仪器供电方案的研究 | 第26-28页 |
·高精度仪表放大器电路 | 第28-29页 |
·高性能低通滤波电路设计 | 第29-33页 |
·真有效值转换电路的设计 | 第33-36页 |
·基于 ATmega128 单片机控制电路的设计 | 第36-50页 |
·ATmega128 系列单片机 | 第36-37页 |
·ATmega128 控制 DDS 芯片实现正弦信号源 | 第37-42页 |
·放大 DDS 信号的功率放大电路的设计 | 第42-43页 |
·ATmega128 数模转换模块的应用 | 第43-44页 |
·ATmega128 单片机 USART 模块的应用 | 第44-46页 |
·ATmega128 最小系统板的构成 | 第46-48页 |
·前端电路 PCB 电路板的绘制 | 第48-50页 |
·本章小结 | 第50-52页 |
第4章 扰动磁场检测仪器的软件部分设计 | 第52-59页 |
·检测仪器软件部分的组成 | 第52页 |
·ATmega128 单片机程序的编写 | 第52-53页 |
·labview 编写的 PC 端软件系统 | 第53-58页 |
·本章小结 | 第58-59页 |
第5章 扰动磁场检测仪器的应用 | 第59-68页 |
·人工加工试件的缺陷检测评估 | 第59-64页 |
·用扰动磁场检测仪器对气瓶对接焊缝的现场检测评估 | 第64-67页 |
·本章小结 | 第67-68页 |
第6章 结论与展望 | 第68-70页 |
·结论 | 第68-69页 |
·展望 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70-73页 |
作者在读期间科研情况说明 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-75页 |