超低能量阈高纯锗探测器的暗物质直接探测
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 第1章 引言 | 第9-21页 |
| ·课题背景 | 第10-18页 |
| ·暗物质问题的提出 | 第10-14页 |
| ·暗物质的理论模型 | 第14-16页 |
| ·暗物质的研究现状 | 第16-18页 |
| ·课题意义和研究内容 | 第18-21页 |
| ·课题目的、创新点及意义 | 第18-20页 |
| ·论文主要内容 | 第20-21页 |
| 第2章 基于高纯锗探测器的实验系统 | 第21-42页 |
| ·实验环境 | 第21-23页 |
| ·中国锦屏地下实验室 | 第21-22页 |
| ·辐射屏蔽系统 | 第22-23页 |
| ·高纯锗探测器 | 第23-34页 |
| ·工作原理 | 第23-31页 |
| ·课题中的高纯锗探测器 | 第31-34页 |
| ·实验系统 | 第34-37页 |
| ·液氮灌装系统 | 第34-35页 |
| ·电子学硬件系统 | 第35-36页 |
| ·数据控制采集软件系统 | 第36-37页 |
| ·系统性能测试 | 第37-42页 |
| ·能量刻度 | 第37-38页 |
| ·能量线性 | 第38-39页 |
| ·能量分辨率 | 第39-40页 |
| ·噪声水平 | 第40-42页 |
| 第3章 数据分析流程 | 第42-56页 |
| ·实验运行取数 | 第42页 |
| ·数据分析 | 第42-54页 |
| ·数据质量检查 | 第42-43页 |
| ·分析参数提取 | 第43-45页 |
| ·物理事例筛选 | 第45-49页 |
| ·效率修正及误差分析 | 第49-54页 |
| ·物理事例能谱 | 第54-56页 |
| 第4章 基于弹性散射模型的物理解释 | 第56-69页 |
| ·弹性散射模型 | 第56-63页 |
| ·理想状况下的能谱 | 第56-57页 |
| ·能谱修正 | 第57-63页 |
| ·物理解释 | 第63-67页 |
| ·基本流程 | 第63页 |
| ·统计学方法 | 第63-67页 |
| ·物理结论 | 第67-69页 |
| 第5章 大质量探测器数据分析中的新方法 | 第69-74页 |
| ·新问题 | 第69页 |
| ·新方法 | 第69-74页 |
| ·表面-体内事例判选 | 第69-72页 |
| ·特征 X 射线等本底扣除 | 第72-74页 |
| 第6章 结论与展望 | 第74-76页 |
| ·课题总结 | 第74-75页 |
| ·展望 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-87页 |
| 致谢 | 第87-89页 |
| 附录A 弹性散射模型在零动量转移下的能谱 | 第89-98页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第98页 |
