高性能紫外探测器新结构及其CMOS读出电路研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第1章 绪论 | 第9-14页 |
·论文的选题和依据 | 第9页 |
·紫外探测技术的应用和研究意义 | 第9-10页 |
·紫外探测技术的国内外研究现状分析 | 第10-11页 |
·研究方法和研究目标 | 第11-12页 |
·论文的组织结构 | 第12-13页 |
·本章小结 | 第13-14页 |
第2章 紫外探测的基本原理和紫外探测器的结构 | 第14-24页 |
·紫外探测的基本原理 | 第14-15页 |
·紫外辐射基础 | 第14页 |
·紫外探测器的定义和工作原理 | 第14-15页 |
·紫外探测的性能参数 | 第15-18页 |
·量子效率和响应度 | 第15页 |
·暗电流 | 第15-16页 |
·雪崩倍增因子 | 第16-17页 |
·紫外光谱选择性 | 第17页 |
·噪声特性 | 第17-18页 |
·紫外探测器的基本类型 | 第18-23页 |
·光发射型紫外探测器 | 第18-19页 |
·宽禁带材料型紫外探测器 | 第19-21页 |
·硅基紫外探测器 | 第21-23页 |
·本章小结 | 第23-24页 |
第3章 高性能紫外探测器结构设计 | 第24-40页 |
·紫外探测器器件仿真 | 第24-31页 |
·器件仿真概述 | 第24-25页 |
·紫外探测器器件仿真 | 第25-31页 |
·紫外探测器二维模型和数值仿真 | 第31-35页 |
·紫外探测器的二维模型 | 第31-34页 |
·紫外探测器数值仿真结果 | 第34-35页 |
·紫外探测器流片和测试结果 | 第35-39页 |
·紫外探测的流片结构 | 第35-36页 |
·紫外探测的测试结果 | 第36-39页 |
·本章小结 | 第39-40页 |
第4章 紫外探测器 CMOS 读出电路研究 | 第40-57页 |
·典型的 CMOS 读出电路 | 第40-42页 |
·源跟随器结构 | 第40页 |
·直接注入结构 | 第40-41页 |
·缓冲直接注入结构 | 第41-42页 |
·电容反馈跨阻放大器结构 | 第42页 |
·折叠式共源共栅运算放大器的设计 | 第42-52页 |
·运放结构的选取 | 第42页 |
·运放中一些参数的分析计算 | 第42-46页 |
·运放的仿真 | 第46-52页 |
·紫外探测系统设计 | 第52-56页 |
·紫外探测系统的结构和工作原理 | 第52-53页 |
·紫外探测系统整体版图 | 第53-54页 |
·紫外探测系统后仿 | 第54-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
第5章 总结与展望 | 第57-58页 |
参考文献 | 第58-61页 |
致谢 | 第61-62页 |
个人简历 | 第62-63页 |
在校期间发表的学术论文及研究成果 | 第63页 |