| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| ·相位噪声的影响及产生原因 | 第7-8页 |
| ·相位噪声的影响和作用 | 第7-8页 |
| ·相位噪声产生的原因 | 第8页 |
| ·传统相位噪声测量技术 | 第8-11页 |
| ·相位噪声测量的国内外现状与发展趋势 | 第11-13页 |
| ·国内外目前典型的相噪测试仪器 | 第12-13页 |
| ·近几年来新的相位噪声测量技术 | 第13页 |
| ·研究目的和研究方法 | 第13-15页 |
| 第二章 基于相位重合检测技术的相位噪声测量理论 | 第15-27页 |
| ·相位噪声定义及与频率稳定度的关系 | 第15-18页 |
| ·相位噪声的定义及有关的概念 | 第15-16页 |
| ·相位噪声与频率稳定度及相位抖动的关系 | 第16-17页 |
| ·相位噪声与频率跳变及相位差变化信息之间的关系 | 第17-18页 |
| ·相位重合理论 | 第18-21页 |
| ·基于相位重合的相位噪声计算 | 第21-25页 |
| ·本章小结 | 第25-27页 |
| 第三章 A/D辅助相位重合检测的相位噪声测量技术 | 第27-47页 |
| ·概述 | 第27-29页 |
| ·基于等效鉴相频率的相位噪声测量技术 | 第27-28页 |
| ·基于群相位的相位噪声测试技术 | 第28-29页 |
| ·群理论和等效鉴相理论在相位噪声测量中的比较和扩展 | 第29页 |
| ·A/D辅助相位重合技术的测噪方案 | 第29-31页 |
| ·设计方案的可行性和有效性 | 第31-37页 |
| ·A/D在相位噪声测量上应用的比较 | 第37页 |
| ·A/D辅助重合点检测的相噪测量方案的分析 | 第37-45页 |
| ·高稳OCXO之间的比相锁定 | 第38-39页 |
| ·参考信号的处理 | 第39-41页 |
| ·高速A/D采样模块 | 第41-44页 |
| ·相位重合检测与门时 | 第44页 |
| ·小闸门的实现 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 第四章 基于相位重合的相噪测量技术的硬软件设计 | 第47-61页 |
| ·硬件实现 | 第47-52页 |
| ·硬件上的各部分模块设计及模块参数计算 | 第47-51页 |
| ·硬件设计上需要注意的事项 | 第51-52页 |
| ·软件实现 | 第52-59页 |
| ·各模块的功能与相关的程序流程图 | 第53-57页 |
| ·核心模块的部分算法 | 第57-59页 |
| ·硬软件上的设计总结 | 第59-60页 |
| ·硬件方面缺陷 | 第59-60页 |
| ·软件上的缺陷 | 第60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 调试与实验 | 第61-65页 |
| ·硬软件调试 | 第61页 |
| ·A/D辅助相位重合测量相噪系统的相关试验 | 第61-64页 |
| ·参考源的比相锁定分析 | 第62页 |
| ·相位噪声测量实验 | 第62-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-69页 |
| ·总结 | 第65-66页 |
| ·设计方案的优缺点 | 第65-66页 |
| ·实验中发现的问题 | 第66页 |
| ·展望 | 第66-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 附录A | 第73-75页 |
| 附录B | 第75-76页 |
| 附录C | 第76-85页 |
| 附录D | 第85-86页 |