| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-27页 |
| ·压敏电阻简介 | 第10-13页 |
| ·SnO_2压敏电阻 | 第13-14页 |
| ·SnO_2压敏电阻的电学性能 | 第14-19页 |
| ·SnO_2压敏电阻材料研究现状 | 第19-25页 |
| ·SnO_2–Nb_2O_5基压敏电阻材料掺杂研究现状 | 第19-22页 |
| ·SnO_2–Ta_2O_5基压敏电阻材料掺杂研究现状 | 第22-25页 |
| ·本论文研究内容 | 第25页 |
| ·课题意义 | 第25-27页 |
| 第2章 研究内容和研究方法 | 第27-31页 |
| ·研究内容 | 第27页 |
| ·SnO_2–Ta_2O_5–ZnO 压敏变阻材料 | 第27页 |
| ·SnO_2–Ta_2O_5–ZnO–TiO_2压敏变阻材料 | 第27页 |
| ·SnO_2–Ta_2O_5–TiO_2–CuO 压敏变阻材料 | 第27页 |
| ·SnO_2–Ta_2O_5–ZnO–ZrO_2压敏变阻材料 | 第27页 |
| ·实验原料及设备 | 第27-28页 |
| ·实验原料 | 第27-28页 |
| ·实验设备 | 第28页 |
| ·实验步骤 | 第28-29页 |
| ·结构表征与分析测试 | 第29-31页 |
| ·烧结性能测定 | 第29-30页 |
| ·微观结构表征 | 第30页 |
| ·相组成表征 | 第30页 |
| ·电学性能测试 | 第30-31页 |
| 第3章 SnO_2–Ta_2O_5–ZnO 压敏电阻材料研究 | 第31-40页 |
| ·ZnO 掺杂水平与烧结温度对材料微观结构的影响 | 第31-36页 |
| ·ZnO 掺杂含量对材料相组成的影响 | 第31-32页 |
| ·ZnO 掺杂水平对材料微观形貌的影响 | 第32-33页 |
| ·烧结温度对材料相组成的影响 | 第33-34页 |
| ·烧结温度对材料微观结构的影响 | 第34-36页 |
| ·ZnO 掺杂水平与烧结温度对材料电学性能的影响 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 第4章 SnO_2–Ta_2O_5–ZnO–TiO_2压敏电阻材料研究 | 第40-51页 |
| ·TiO_2掺杂水平对材料微观结构的影响 | 第40-44页 |
| ·TiO_2掺杂水平对材料相组成的影响 | 第40页 |
| ·TiO_2掺杂水平对材料微观形貌的影响 | 第40-44页 |
| ·TiO_2掺杂水平对材料电学性能的影响 | 第44-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 SnO_2–Ta_2O_5–TiO_2–CuO 压敏电阻材料研究 | 第51-58页 |
| ·CuO 掺杂水平对材料微观结构的影响 | 第51-53页 |
| ·CuO 掺杂水平对材料相组成的影响 | 第51-53页 |
| ·CuO 掺杂水平对材料微观形貌的影响 | 第53页 |
| ·CuO 掺杂水平对材料电学性能的影响 | 第53-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第6章 SnO_2–Ta_2O_5–ZnO–ZrO_2压敏电阻材料研究 | 第58-62页 |
| ·ZrO_2掺杂水平对材料微观结构的影响 | 第58-59页 |
| ·ZrO_2掺杂水平对材料相组成的影响 | 第58-59页 |
| ·ZrO_2掺杂水平对材料微观形貌的影响 | 第59页 |
| ·ZrO_2掺杂水平对材料电学性能的影响 | 第59-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第7章 结论 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 个人简历 | 第69-70页 |
| 攻读硕士期间的研究成果 | 第70页 |
