| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 目录 | 第9-12页 |
| 图和附表清单 | 第12-14页 |
| 1 绪论 | 第14-29页 |
| ·引言 | 第14-15页 |
| ·铝电解电容器 | 第15-20页 |
| ·铝电解电容器的结构 | 第16-18页 |
| ·铝电解电容器的性能 | 第18-20页 |
| ·铝阳极箔比容的特征 | 第20-22页 |
| ·高介电常数铝复合氧化膜的研究及进展 | 第22-27页 |
| ·铝阳极箔氧化膜的结构研究 | 第22-24页 |
| ·铝阳极箔晶型Al_2O_3的研究 | 第24-25页 |
| ·高介电常数复合铝氧化膜制造技术 | 第25-27页 |
| ·论文研究内容 | 第27-29页 |
| 2 实验方法 | 第29-38页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·实验药品和主要实验设备 | 第29-31页 |
| ·实验药品 | 第29-30页 |
| ·主要实验仪器设备 | 第30-31页 |
| ·实验内容 | 第31-38页 |
| ·溶胶的配制 | 第32-35页 |
| ·高介电常数复合氧化膜的制备 | 第35-36页 |
| ·性能检测 | 第36-38页 |
| 3 TiO_2/Al_2O_3氧化膜对高压阳极腐蚀箔性能的影响 | 第38-56页 |
| ·引言 | 第38页 |
| ·TiO_2溶胶对腐蚀箔比电容影响的正交试验研究 | 第38-41页 |
| ·正交试验设计 | 第38-40页 |
| ·正交试验结果及分析 | 第40-41页 |
| ·钛酸四丁酯水解工艺参数对铝阳极箔性能的影响分析 | 第41-51页 |
| ·钛酸丁酯浓度对铝阳极箔比电容的影响 | 第42-45页 |
| ·浸渍时间对铝阳极箔比电容的影响 | 第45-47页 |
| ·煅烧温度对铝阳极箔比电容的影响 | 第47-49页 |
| ·保温时间对铝阳极箔比电容的影响 | 第49-51页 |
| ·TiO_2/Al_2O_3复合膜的腐蚀箔与未处理箔的性能对比 | 第51-55页 |
| ·比容的差异 | 第51-53页 |
| ·耐蚀性的比较 | 第53-54页 |
| ·X射线衍射(XRD)分析 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 4 SiO_2/Al_2O_3氧化膜对高压阳极腐蚀箔比容的影响 | 第56-73页 |
| ·引言 | 第56页 |
| ·SiO_2/Al_2O_3氧化膜对腐蚀箔比电容影响的正交研究 | 第56-60页 |
| ·正交试验设计 | 第56-57页 |
| ·SiO_2对比容影响因素的正交试验计算结果及分析 | 第57-58页 |
| ·正交试验优化结果验证分析 | 第58-60页 |
| ·SiO_2凝胶分解的影响因素研究 | 第60-70页 |
| ·正硅酸乙酯浓度的影响 | 第61-63页 |
| ·浸渍时间对腐蚀箔比容的影响 | 第63-66页 |
| ·煅烧温度的影响分析 | 第66-68页 |
| ·保温时间对腐蚀箔比容的影响 | 第68-70页 |
| ·性能测试 | 第70-72页 |
| ·比容的检测 | 第70-71页 |
| ·XRD检测 | 第71页 |
| ·耐蚀性的测试 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 5 主要结论和展望 | 第73-75页 |
| ·主要结论 | 第73-74页 |
| ·展望 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 个人简历在学期间发表的学术论文及研究成果 | 第81页 |