| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 概述 | 第8-15页 |
| ·故障诊断概述 | 第8-10页 |
| ·故障诊断的发展 | 第8-9页 |
| ·电力整流装置故障诊断的发展 | 第9页 |
| ·电力整流装置故障分类 | 第9-10页 |
| ·电力整流装置故障处理方式 | 第10页 |
| ·电力电子整流装置故障诊断方法 | 第10-13页 |
| ·电力电子整流电路故障特点 | 第10-11页 |
| ·常用故障诊断方法介绍 | 第11-13页 |
| ·整流装置故障预测方法介绍 | 第13页 |
| ·本文选题意义及研究内容 | 第13-15页 |
| 2 三相可控整流电路工作原理及故障形式 | 第15-24页 |
| ·三相整流电路工作原理 | 第15-18页 |
| ·三相整流电路SIMULINK仿真及其故障分析 | 第18-19页 |
| ·三相桥式全控整流电路的故障类型 | 第19-24页 |
| 3 基于残差原理的三相整流电路故障诊断分析 | 第24-33页 |
| ·基于残差原理的整流电路故障检测原理 | 第24-27页 |
| ·采样 | 第24页 |
| ·模拟整流过程 | 第24-26页 |
| ·模拟整流信号与实际整流信号比较 | 第26-27页 |
| ·故障编码 | 第27页 |
| ·可控整流故障诊断编码表 | 第27-31页 |
| ·三相桥式全控整流电路的故障情况 | 第31页 |
| ·任意控制角的可控整流故障检测 | 第31-33页 |
| 4 三相整流电路故障预测分析 | 第33-51页 |
| ·故障预测原理 | 第33-38页 |
| ·开关器件失效机理 | 第33-34页 |
| ·电迁移引起的器件失效模式 | 第34-35页 |
| ·开关器件亚健康时的外特性(以IGBT为例) | 第35页 |
| ·IGBT MOS阈值电压漂移——一种可能隐藏的失效模式 | 第35-36页 |
| ·IGBT寿命期限内有限次数短路脉冲冲击的累积损伤失效 | 第36-38页 |
| ·静电放电保护用高压NPN管的硅熔融 | 第38页 |
| ·故障预测仿真 | 第38-51页 |
| ·采样信号中谐波部分的滤除 | 第39-45页 |
| ·故障预测 | 第45-51页 |
| 5 结论 | 第51-52页 |
| 6 致谢 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |