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CCD挠度测量系统的研究

中文摘要第1-5页
Abstract第5-8页
第一章 序论第8-10页
   ·问题的提出第8页
   ·挠度测量方案选择第8-9页
   ·CCD测量系统方案及要求第9-10页
   ·系统构成第10页
第二章 光电耦合器(CCD)驱动电路第10-17页
   ·荷耦合(CCD)器件的基本结构和工作原理第10-13页
     ·光电转换、储存第10-11页
     ·电荷转移第11-12页
     ·电荷读出第12-13页
   ·TCD132D结构第13-17页
第三章 单片机电路设计第17-26页
   ·元件选择第17-24页
     ·单片机的选择第17-19页
     ·RAM元件的选择第19-20页
     ·ROM的选择第20-21页
     ·其I/O并行接口元件选择第21-22页
     ·RS-232标准串口通信及接口芯片选择第22-23页
     ·其他第23-24页
   ·单片机电路设计第24-26页
第四章 单片机程序设计第26-38页
   ·单片机系统功能第26-27页
   ·单片机程序编制第27-38页
第五章 计算机软件控制界面设计第38-50页
   ·控制界面密码保护第38-40页
   ·控制界面设计第40-50页
     ·测量与控制第40-44页
     ·数据观察第44-47页
     ·测量校准第47-50页
第六章 计算机与单片机通信第50-61页
   ·串口通信开始第51-54页
   ·接收缓冲区的清理第54-55页
   ·自动测量第55-61页
第七章 总结第61-62页
结束语(问题探讨与改进)第62-63页
致谢第63-64页
参考文献第64页

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