CCD挠度测量系统的研究
中文摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
第一章 序论 | 第8-10页 |
·问题的提出 | 第8页 |
·挠度测量方案选择 | 第8-9页 |
·CCD测量系统方案及要求 | 第9-10页 |
·系统构成 | 第10页 |
第二章 光电耦合器(CCD)驱动电路 | 第10-17页 |
·荷耦合(CCD)器件的基本结构和工作原理 | 第10-13页 |
·光电转换、储存 | 第10-11页 |
·电荷转移 | 第11-12页 |
·电荷读出 | 第12-13页 |
·TCD132D结构 | 第13-17页 |
第三章 单片机电路设计 | 第17-26页 |
·元件选择 | 第17-24页 |
·单片机的选择 | 第17-19页 |
·RAM元件的选择 | 第19-20页 |
·ROM的选择 | 第20-21页 |
·其I/O并行接口元件选择 | 第21-22页 |
·RS-232标准串口通信及接口芯片选择 | 第22-23页 |
·其他 | 第23-24页 |
·单片机电路设计 | 第24-26页 |
第四章 单片机程序设计 | 第26-38页 |
·单片机系统功能 | 第26-27页 |
·单片机程序编制 | 第27-38页 |
第五章 计算机软件控制界面设计 | 第38-50页 |
·控制界面密码保护 | 第38-40页 |
·控制界面设计 | 第40-50页 |
·测量与控制 | 第40-44页 |
·数据观察 | 第44-47页 |
·测量校准 | 第47-50页 |
第六章 计算机与单片机通信 | 第50-61页 |
·串口通信开始 | 第51-54页 |
·接收缓冲区的清理 | 第54-55页 |
·自动测量 | 第55-61页 |
第七章 总结 | 第61-62页 |
结束语(问题探讨与改进) | 第62-63页 |
致谢 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64页 |