PIN二极管动态特性的计算机仿真分析与研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| ·半导体功率器件的发展 | 第10-13页 |
| ·国外发展现状 | 第12页 |
| ·国内发展现状 | 第12-13页 |
| ·仿真技术的发展 | 第13页 |
| ·半导体功率器件的应用领域 | 第13-14页 |
| ·课题提出的意义 | 第14-15页 |
| ·功率半导体器件的分类 | 第15-16页 |
| ·目前存在的问题 | 第16-18页 |
| 第二章 反向恢复机理与分析 | 第18-22页 |
| ·PIN二极管的结构模型 | 第18-19页 |
| ·反向恢复机理 | 第19-22页 |
| 第三章 PIN二极管雪崩击穿特性的研究 | 第22-36页 |
| ·封面静态雪崩击穿机理的分析 | 第22-24页 |
| ·静态雪崩击穿特性的分析 | 第24-30页 |
| ·二极管的结构与仿真模型 | 第24-26页 |
| ·电场分布的仿真与分析 | 第26-27页 |
| ·电流密度分布的仿真与分析 | 第27-28页 |
| ·温度分布的仿真与分析 | 第28-30页 |
| ·PIN二极管动态雪崩特性的仿真分析 | 第30-36页 |
| ·动态雪崩击穿的理论分析 | 第30-32页 |
| ·动态雪崩击穿的仿真与分析 | 第32-36页 |
| 第四章 PIN二极管反向恢复时间与软度 | 第36-47页 |
| ·各参数对PIN二极管trr的影响 | 第36-42页 |
| ·反向峰值电流对trr的影响 | 第36-37页 |
| ·正向电流密度对trr的影响 | 第37-40页 |
| ·载流子寿命对trr的影响 | 第40-42页 |
| ·各参数对PIN二极管软度的影响 | 第42-45页 |
| ·正向电流密度对软度的影响 | 第43页 |
| ·载流子寿命对软度的影响 | 第43-45页 |
| ·其他参数的影响 | 第45页 |
| ·小结 | 第45-47页 |
| 第五章 PIN二极管的优化 | 第47-50页 |
| ·各参数的优化与分析 | 第47页 |
| ·结构的优化与分析 | 第47-50页 |
| 第六章 结论 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-53页 |
| 在学研究成果 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54页 |