多路绝缘耐压智能试验台的研制
| 摘要 | 第1-8页 |
| 英文摘要 | 第8-9页 |
| 第一章 绪言 | 第9-11页 |
| ·课题选择的目的和意义 | 第9页 |
| ·多路绝缘耐压智能试验系统的现状 | 第9-10页 |
| ·课题研究内容和主要工作 | 第10-11页 |
| 第二章 多路绝缘耐压智能试验台的试验项目 | 第11-17页 |
| ·绝缘电阻的测量 | 第11-14页 |
| ·绝缘特性测量的目的和要求 | 第11-13页 |
| ·绝缘电阻的试验方法 | 第13页 |
| ·绝缘电阻试验要求 | 第13-14页 |
| ·工频耐压试验 | 第14-17页 |
| ·影响工频耐压的主要因素 | 第14-16页 |
| ·工频耐压试验要求 | 第16-17页 |
| 第三章 多路绝缘耐压智能试验台整体设计方案 | 第17-21页 |
| ·设计要求 | 第17-18页 |
| ·系统要求实现的功能 | 第17-18页 |
| ·技术参数要求 | 第18页 |
| ·设计原理与体系结构 | 第18-21页 |
| ·设计原理 | 第18-19页 |
| ·系统体系结构 | 第19-21页 |
| 第四章 试验台下位机系统设计及实现 | 第21-31页 |
| ·主要芯片介绍 | 第21-22页 |
| ·单片机－CPLD 双芯片控制电路设计 | 第22-27页 |
| ·双芯片控制电路总体设计 | 第22-23页 |
| ·CPLD 电路设计与仿真 | 第23-27页 |
| ·高压继电器组的设计与实现 | 第27-29页 |
| ·试验台整体外貌及布局 | 第29-31页 |
| 第五章 试验台上位机系统设计 | 第31-62页 |
| ·开发环境介绍 | 第31页 |
| ·开发语言 | 第31-33页 |
| ·Visual C++6.0 简介 | 第31-32页 |
| ·SQL Server 2000 介绍 | 第32-33页 |
| ·软件总体设计方案 | 第33-35页 |
| ·上位机监控系统功能描述 | 第33页 |
| ·上位机监控系统功能模块划分 | 第33-34页 |
| ·上位机监控系统流程分析 | 第34-35页 |
| ·主控程序设计 | 第35-41页 |
| ·界面设计 | 第35-39页 |
| ·自动快速测试设计 | 第39-41页 |
| ·串口通信程序设计 | 第41-46页 |
| ·MSComm 控件设置 | 第41-42页 |
| ·通信协议设计和实现 | 第42-46页 |
| ·快速搜索故障程序设计 | 第46-48页 |
| ·数据库程序设计 | 第48-62页 |
| ·ADO 数据模型 | 第48-52页 |
| ·数据库结构 | 第52-54页 |
| ·用户管理模块 | 第54-58页 |
| ·数据查询 | 第58-60页 |
| ·产品管理 | 第60-62页 |
| 第六章 试验台保护系统的设计 | 第62-63页 |
| 结论与展望 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 附录 A | 第68页 |
