锥束工业CT图像校正技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·工业CT技术 | 第10页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-14页 |
| ·系统安装参数校准 | 第12-13页 |
| ·探测器输出校正 | 第13页 |
| ·射束硬化校正 | 第13-14页 |
| ·论文内容结构 | 第14页 |
| ·本章小结 | 第14-15页 |
| 第二章 系统安装参数校准 | 第15-30页 |
| ·安装参数误差对切片质量的影响 | 第15-16页 |
| ·安装参数初步测量方法 | 第16-18页 |
| ·投影中心横坐标初步测量方法 | 第17页 |
| ·投影中心纵坐标、Dso和Dsd的初步测量方法 | 第17-18页 |
| ·安装参数精确值的确定 | 第18-22页 |
| ·目标函数的确定 | 第18-19页 |
| ·黄金分割搜索法 | 第19-22页 |
| ·安装参数误差的校正方法 | 第22-24页 |
| ·探测器旋转误差的消除 | 第23页 |
| ·探测器倾斜误差的消除 | 第23-24页 |
| ·投影中心偏移误差的消除 | 第24页 |
| ·实验结果及讨论 | 第24-29页 |
| ·初步测量安装参数 | 第24-27页 |
| ·搜索安装参数精确值 | 第27-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 探测器输出校正 | 第30-44页 |
| ·校正原因 | 第30-32页 |
| ·校正方案 | 第32-37页 |
| ·暗场图像校正 | 第33页 |
| ·光场校正 | 第33页 |
| ·增益校正图的生成 | 第33-34页 |
| ·坏像素的鉴别 | 第34-36页 |
| ·基于坏像素模板的校正方法 | 第36-37页 |
| ·探测器输出校正流程 | 第37-38页 |
| ·实验结果及讨论 | 第38-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 射束硬化校正 | 第44-59页 |
| ·射束硬化现象 | 第44-47页 |
| ·射束硬化产生机理 | 第44-46页 |
| ·射束硬化现象的影响 | 第46-47页 |
| ·射束硬化校正方案 | 第47-52页 |
| ·预过滤法 | 第47-48页 |
| ·双能量法 | 第48-49页 |
| ·多项式拟合法 | 第49-52页 |
| ·实验结果及讨论 | 第52-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 结论与展望 | 第59-62页 |
| ·研究工作总结 | 第59-60页 |
| ·系统安装参数校准 | 第59页 |
| ·探测器输出校正 | 第59页 |
| ·射束硬化校正 | 第59-60页 |
| ·存在的问题及后续工作展望 | 第60-61页 |
| ·结束语 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 附录:缩略词 | 第67-68页 |
| 西北工业大学 学位论文知识产权声明书 | 第68页 |
| 西北工业大学 学位论文原创性声明 | 第68页 |
