叶片边缘检测技术的研究
| 第1章 绪论 | 第1-21页 |
| ·研究的意义 | 第10-12页 |
| ·国内发展状况 | 第12-14页 |
| ·国外发展状况 | 第14-15页 |
| ·关键技术的探究 | 第15-19页 |
| ·主要研究内容 | 第19-21页 |
| 第2章 边缘检查仪的总体方案设计 | 第21-31页 |
| ·边缘检查仪方案设计 | 第21-23页 |
| ·设计技术要求 | 第21-22页 |
| ·边缘检查仪的技术要求 | 第22-23页 |
| ·边缘检查仪硬件设计 | 第23-28页 |
| ·光路设计 | 第23-24页 |
| ·光学系统的设计 | 第24-27页 |
| ·CCD摄像器件的选择 | 第27页 |
| ·定位夹具的设计 | 第27-28页 |
| ·叶片图像检测系统的软件设计 | 第28-30页 |
| ·程序要求 | 第28-29页 |
| ·程序流程图 | 第29页 |
| ·显示界面 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 图像处理技术研究 | 第31-43页 |
| ·概述 | 第31页 |
| ·边缘提取技术 | 第31-35页 |
| ·Roerts算子 | 第31-32页 |
| ·Sobel算子 | 第32-33页 |
| ·Prewitt算子 | 第33页 |
| ·Laplacian算子 | 第33-34页 |
| ·Marr算子 | 第34页 |
| ·边缘检测算子性能的实验分析及选取 | 第34-35页 |
| ·图像滤波 | 第35-38页 |
| ·均值滤波器 | 第36页 |
| ·自适应维纳滤波器 | 第36-37页 |
| ·Sobel滤波器 | 第37页 |
| ·合成算子滤波器 | 第37-38页 |
| ·合成算子算法实现步骤 | 第38页 |
| ·细分算法的研究 | 第38-42页 |
| ·细分技术的概述 | 第39页 |
| ·基于灰度级边缘空间矩的细分算子 | 第39-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 边缘拟合技术研究 | 第43-48页 |
| ·椭圆边缘检测方法概述 | 第43-44页 |
| ·圆弧的最小二乘直接拟合法 | 第44-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 测量系统的标定 | 第48-55页 |
| ·测量系统的标定概述 | 第48页 |
| ·图像测量系统标定 | 第48-54页 |
| ·当量比例的标定 | 第49-53页 |
| ·像素当量的标定 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第6章 仪器测量不确定度分析 | 第55-66页 |
| ·概述 | 第55页 |
| ·测量不确定度分析 | 第55-64页 |
| ·量化误差带来的测量不确定度 | 第55-57页 |
| ·标定误差带来的测量不确定度 | 第57-61页 |
| ·边缘定位误差带来的测量不确定度 | 第61-62页 |
| ·照明和温度变化带来的测量不确定度 | 第62-63页 |
| ·行抖动带来的测量不确定度 | 第63-64页 |
| ·由仪器测量重复性带来的测量不确定度 | 第64页 |
| ·仪器的总测量不确定度 | 第64页 |
| ·精度验证 | 第64-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 结论 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文和取得的科研成果 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
