复杂多品种制造系统质量管理方法与应用研究
| 第1章 绪论 | 第1-16页 |
| ·研究背景 | 第7-12页 |
| ·半导体封装制造过程 | 第7-9页 |
| ·多品种制造系统模式分析 | 第9-10页 |
| ·多品种制造系统质量管理问题 | 第10-12页 |
| ·研究内容和目的 | 第12-13页 |
| ·研究方法和技术路线 | 第13页 |
| ·创新点 | 第13-14页 |
| ·论文结构 | 第14-16页 |
| 第2章 文献综述 | 第16-42页 |
| ·简介 | 第16-17页 |
| ·统计过程控制 | 第17-29页 |
| ·一元统计过程控制 | 第17-21页 |
| ·多元统计过程控制 | 第21-29页 |
| ·数据挖掘 | 第29-35页 |
| ·概述 | 第29-33页 |
| ·聚类分析 | 第33-35页 |
| ·半导体制造过程质量控制 | 第35-42页 |
| ·合格率管理 | 第35-40页 |
| ·统计过程控制在半导体制造过程质量控制中的应用 | 第40-41页 |
| ·数据挖掘在半导体制造过程质量控制中的应用 | 第41-42页 |
| 第3章 基于数据挖掘的过程质量管理 | 第42-68页 |
| ·简介 | 第42-43页 |
| ·体系结构分析 | 第43-47页 |
| ·质量监控层 | 第47-60页 |
| ·多层质量监控系统 | 第47-49页 |
| ·多品种统计过程控制 | 第49-60页 |
| ·多品种一元统计过程控制 | 第49-52页 |
| ·多品种多元统计过程控制 | 第52-60页 |
| ·质量改善层 | 第60-68页 |
| ·基本流程 | 第60-62页 |
| ·低合格率特征数据集的提取 | 第62-64页 |
| ·问题点定位 | 第64-68页 |
| 第4章 结合调度的质量管理思想和方法 | 第68-78页 |
| ·生产调度概述 | 第68-69页 |
| ·结合调度的质量管理思想 | 第69-70页 |
| ·二维调度方法 | 第70-72页 |
| ·质量因素指标 | 第72-73页 |
| ·基本方法 | 第73-78页 |
| 第5章 实证与仿真研究 | 第78-130页 |
| ·简介 | 第78-79页 |
| ·实证对象分析 | 第79-80页 |
| ·低合格率特征数据集的提取和问题点定位实证研究 | 第80-88页 |
| ·多品种一元统计过程控制方法实证与仿真研究 | 第88-101页 |
| ·多品种多元统计过程控制方法实证研究 | 第101-111页 |
| ·品种适应度实证研究 | 第111-115页 |
| ·二维调度方法性能仿真比较研究 | 第115-117页 |
| ·结合调度的质量管理思想仿真比较研究 | 第117-130页 |
| 第6章 结论与建议 | 第130-134页 |
| ·研究意义 | 第130-131页 |
| ·结论 | 第131-132页 |
| ·未来研究方向 | 第132-134页 |
| 参考文献 | 第134-142页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第142-143页 |
| 附录 | 第143-151页 |
| 致谢 | 第151页 |
