| 第一章 引言 | 第1-24页 |
| ·扫描力显微镜(SFM)发展简史 | 第10-11页 |
| ·SFM 基本原理 | 第11-14页 |
| ·SFM 工作原理 | 第11-13页 |
| ·锁相放大技术(Lock-in Techniques) | 第13-14页 |
| ·SFM 的表面电畴成像技术 | 第14-20页 |
| ·SFM 非接触模式电畴成像 | 第14-15页 |
| ·SFM 接触模式电畴成像 | 第15-20页 |
| ·铁电材料及 SFM 研究铁电材料的现状 | 第20-24页 |
| ·铁电体及其基本性能 | 第20-21页 |
| ·铁电相及铁电畴 | 第21-22页 |
| ·SFM 研究铁电材料的现状 | 第22-24页 |
| 第二章 实验部分 | 第24-31页 |
| ·实验平台的建立 | 第24页 |
| ·样品的制备 | 第24-25页 |
| ·实验过程的影响因素及解决方案 | 第25-31页 |
| ·针尖状态对PFM 电畴成像的影响 | 第25-27页 |
| ·粗糙的样品对PFM 电畴成像的影响 | 第27-28页 |
| ·样品结构对压电响应信号的影响 | 第28-31页 |
| 第三章 PZT 铁电材料电畴结构及电畴结构与疲劳特性的关系研究 | 第31-42页 |
| ·PZT 陶瓷块材的电畴成像及畴结构分析 | 第31-33页 |
| ·PZT 薄膜电畴在疲劳过程中的演变 | 第33-42页 |
| ·铁电体的疲劳现象 | 第33-36页 |
| ·PFM 观察疲劳过程中电畴结构的演变 | 第36-42页 |
| 第四章 SBLT 薄膜的电畴结构及其反转行为 | 第42-53页 |
| ·铁电材料的反转 | 第42-43页 |
| ·SBLT 薄膜中的电畴结构及钉扎现象 | 第43-50页 |
| ·PFM 的SBLT 薄膜的电畴结构 | 第44-47页 |
| ·SBLT 电畴中的钉扎现象 | 第47-50页 |
| ·SBLT 薄膜电畴的反转及其保持行为 | 第50-53页 |
| 第五章 铁电薄膜局域压电系数的测量和表面能分析 | 第53-63页 |
| ·铁电薄膜局域压电系数的 SFM 测量 | 第53-55页 |
| ·铁电材料的应变-电场回线 | 第53页 |
| ·PFM 对铁电薄膜局域压电系数的测量 | 第53-55页 |
| ·SFM 对材料的表面能分析 | 第55-63页 |
| ·SFM 摩擦力模式和材料表面能 | 第55-56页 |
| ·SFM 力曲线与材料表面能 | 第56-63页 |
| 第六章 结论与展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 个人简历 | 第73页 |