| 1 引言 | 第1-36页 |
| ·电磁形状因子的物理意义 | 第29页 |
| ·质子电磁形状因子研究状况 | 第29-32页 |
| ·论文选题动机 | 第32-34页 |
| ·文章结构 | 第34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 2 北京正负电子对撞机和北京谱仪简介 | 第36-60页 |
| ·北京正负电子对撞机(BEPC) | 第36-37页 |
| ·北京谱仪(BES) | 第37-51页 |
| ·束流管(Beam Pipe) | 第40页 |
| ·顶点探测器(Vertex Chamber) | 第40-41页 |
| ·主漂移室(Main Drift Chamber) | 第41-44页 |
| ·飞行时间计数器(Time Of Flight) | 第44-46页 |
| ·簇射计数器(Shower Counter) | 第46-48页 |
| ·磁铁系统(Magnet System) | 第48-49页 |
| ·μ子计数器(Muon Counter) | 第49页 |
| ·亮度监测器(Luminosity Monitor) | 第49-50页 |
| ·气体系统(Gas System) | 第50-51页 |
| ·BES数据获取和分析 | 第51-59页 |
| ·BES的数据获取 | 第51-55页 |
| ·离线数据分析处理系统 | 第55-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 3 北京谱仪上p和(?)鉴别 | 第60-76页 |
| ·三种粒子鉴别方法 | 第61-63页 |
| ·dE/dx粒子鉴别原理 | 第61-62页 |
| ·TOF粒子鉴别原理 | 第62页 |
| ·dE/dx和TOF联合粒子鉴别原理 | 第62页 |
| ·粒子鉴别条件 | 第62-63页 |
| ·三种方法鉴别p和(?)的效率 | 第63-64页 |
| ·本底混入的研究 | 第64-71页 |
| ·强子本底 | 第64-68页 |
| ·轻子本底 | 第68-71页 |
| ·本章小结 | 第71-76页 |
| 4 e~+e~-→p(?)事例选择 | 第76-102页 |
| ·径迹级 | 第78-79页 |
| ·顶点位置 | 第78-79页 |
| ·几何接受度 | 第79页 |
| ·径迹拟合质量 | 第79页 |
| ·事例级 | 第79-91页 |
| ·p(?)径迹夹角 | 第79-81页 |
| ·动量 | 第81-82页 |
| ·dE/dx信息 | 第82-85页 |
| ·TOF信息 | 第85页 |
| ·TOF和dE/dx信息的修正 | 第85-91页 |
| ·各质心能量的事例终选条件 | 第91页 |
| ·中性径迹的讨论 | 第91-92页 |
| ·本底分析 | 第92-97页 |
| ·e~+e~-→p(?)π~Ο的截面 | 第97-98页 |
| ·本章小结 | 第98-102页 |
| 5 探测效率和辐射修正 | 第102-118页 |
| ·零级理论截面公式 | 第102-104页 |
| ·初态辐射修正 | 第104-110页 |
| ·方案Ⅰ | 第105-106页 |
| ·方案Ⅱ | 第106-109页 |
| ·两种方案比较 | 第109-110页 |
| ·库仑修正 | 第110页 |
| ·终态修正 | 第110-113页 |
| ·角分布 | 第113-114页 |
| ·真实化 | 第114页 |
| ·探测效率 | 第114-117页 |
| ·本章小结 | 第117-118页 |
| 6 截面与形状因子结果及误差分析 | 第118-130页 |
| ·亮度 | 第118-119页 |
| ·触发效率 | 第119页 |
| ·截面和形状因子 | 第119-120页 |
| ·统计误差分析 | 第120页 |
| ·系统误差分析 | 第120-122页 |
| ·探测效率的误差贡献 | 第121-122页 |
| ·结果与讨论 | 第122-125页 |
| ·本章小结 | 第125-130页 |
| 7 总结和展望 | 第130-134页 |
| A 亮度的测量方法 | 第134-144页 |
| A. 1 事例选择 | 第134-138页 |
| A. 2 选择效率 | 第138-139页 |
| A. 3 亮度计算与误差分析 | 第139-141页 |
| A. 4 结果 | 第141-144页 |
| B 单事例显示 | 第144-152页 |
| 文献 | 第152-156页 |
| 发表文章目录 | 第156-160页 |
| 致谢 | 第160-161页 |