基于有限元法和遗传算法的电磁层析成像方法的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| ·电磁层析成像研究背景及意义 | 第11-12页 |
| ·电磁层析成像概述 | 第12-13页 |
| ·电磁层析成像技术的发展及研究现状 | 第13-15页 |
| ·本文的主要任务及组织结构 | 第15-17页 |
| 第2章 EMT正问题的分析求解 | 第17-31页 |
| ·电磁成像基本原理及等效电路 | 第18-21页 |
| ·基本原理 | 第18-19页 |
| ·等效电路 | 第19-20页 |
| ·硬件系统 | 第20-21页 |
| ·EMT正问题的数学模型 | 第21-24页 |
| ·EMT正问题的场方程式 | 第22-23页 |
| ·EMT正问题的边值问题 | 第23-24页 |
| ·电磁场数值计算 | 第24-25页 |
| ·基于有限元法的EMT正问题求解 | 第25-30页 |
| ·有限元法介绍 | 第25页 |
| ·EMT正问题求解 | 第25-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 EMT敏感场的仿真研究 | 第31-45页 |
| ·Ansoft软件的介绍 | 第31页 |
| ·Ansoft的介绍 | 第31页 |
| ·Ansoft的分析步骤 | 第31页 |
| ·Ansoft对EMT建模 | 第31-34页 |
| ·敏感场仿真分析 | 第34-39页 |
| ·激励电流对磁感应强度的影响 | 第34-35页 |
| ·激励频率对磁感应强度的影响 | 第35-37页 |
| ·目标物体属性对磁感应强度的影响 | 第37-39页 |
| ·检测电压值分析 | 第39-43页 |
| ·检测电压值分布 | 第39-40页 |
| ·目标物体位置对检测电压的影响 | 第40-42页 |
| ·目标物体材料对检测电压的影响 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-45页 |
| 第4章 基于遗传算法的图像重建 | 第45-59页 |
| ·EMT图像重建算法分析 | 第45-49页 |
| ·基于灵敏度系数的线性反投影算法(LBP) | 第46-47页 |
| ·修正的牛顿拉夫逊法 | 第47-49页 |
| ·遗传算法 | 第49-54页 |
| ·遗传算法基本原理 | 第50-51页 |
| ·遗传算法与传统方法的比较 | 第51-53页 |
| ·遗传算法的实现 | 第53-54页 |
| ·基于改进遗传算法的图像重构算法 | 第54-57页 |
| ·图像重建数学模型 | 第54-55页 |
| ·改进的遗传算法 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第5章 图像重建的仿真实验 | 第59-73页 |
| ·场域剖分 | 第59-65页 |
| ·剖分准则 | 第60页 |
| ·存储方式 | 第60-61页 |
| ·有限元单元编号 | 第61-63页 |
| ·网格加密 | 第63页 |
| ·节点编号 | 第63-64页 |
| ·节点坐标 | 第64-65页 |
| ·剖分转换 | 第65页 |
| ·单线圈激励敏感场的灵敏度分布 | 第65-66页 |
| ·实验及结果分析 | 第66-72页 |
| ·像素块的划分 | 第66页 |
| ·仿真结果分析 | 第66-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第6章 结论 | 第73-75页 |
| ·工作总结 | 第73-74页 |
| ·工作展望 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 致谢 | 第79-81页 |
| 硕士期间发表的论文和参加的科研项目 | 第81页 |
