TFT-LCD液晶材料对显示残像的影响
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-22页 |
| ·液晶显示技术的发展历程 | 第10-11页 |
| ·TFT-LCD 用液晶材料 | 第11-14页 |
| ·材料特点 | 第11页 |
| ·常用分子结构 | 第11-13页 |
| ·应用于TFT-LCD 的三类高极性液晶材料 | 第13-14页 |
| ·取向材料——聚酰亚胺（PI） | 第14-16页 |
| ·什么是取向材料 | 第14-15页 |
| ·聚酰亚胺的特性 | 第15-16页 |
| ·关于残像（IMAGE STICKING） | 第16-21页 |
| ·什么是残像 | 第16-17页 |
| ·残像的成因 | 第17页 |
| ·对面残像的分析 | 第17-19页 |
| ·对线残像的分析 | 第19-21页 |
| ·研究重点及要开展的工作 | 第21-22页 |
| 第2章 液晶分子结构与残像的相关性分析 | 第22-44页 |
| ·混合液晶分子结构剖析 | 第22-28页 |
| ·分析测试仪器 | 第22页 |
| ·剖析方法 | 第22页 |
| ·剖析结果 | 第22-28页 |
| ·典型单体液晶的质谱解析 | 第28-30页 |
| ·CF_2O 连接基团类单体液晶 | 第28页 |
| ·侧向含氟三联苯类单体液晶 | 第28页 |
| ·（双）环己基多氟联苯类单体液晶 | 第28-29页 |
| ·烯基双环己基甲苯类单体液晶 | 第29-30页 |
| ·混合液晶物理参数 | 第30-34页 |
| ·厂商提供的液晶性能参数 | 第30页 |
| ·混合液晶性能参数测试 | 第30-31页 |
| ·有关单体液晶的性能参数 | 第31-34页 |
| ·TFT-LCD 样品的制作 | 第34-37页 |
| ·阵列基板制备工艺 | 第35-36页 |
| ·液晶盒制备工艺 | 第36页 |
| ·模块组装工艺 | 第36-37页 |
| ·“残像”水平测试条件及判别方法 | 第37-38页 |
| ·结果与讨论 | 第38-43页 |
| ·混合液晶配方的性能与组成分析 | 第38-39页 |
| ·“线残像”水平测试结果 | 第39-42页 |
| ·“面残像”水平测试结果 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第3章 取向层与发生残像的液晶盒的相关性分析 | 第44-56页 |
| ·样品来源 | 第44页 |
| ·分析测试项目与方法 | 第44-45页 |
| ·分析测试项目 | 第45页 |
| ·分析测试仪器 | 第45页 |
| ·实验方法介绍 | 第45-51页 |
| ·晶体旋转法测定预倾角 | 第45-48页 |
| ·表面张力测试法 | 第48-49页 |
| ·离子色谱分析 | 第49-50页 |
| ·用Tof-二次质谱仪对取向层进行分析 | 第50-51页 |
| ·结果与讨论 | 第51-55页 |
| ·预倾角测试结果 | 第51-52页 |
| ·表面张力测试结果 | 第52-53页 |
| ·离子色谱分析结果 | 第53页 |
| ·Tof-SIMS 分析结果 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 附录 典型单体液晶的质谱解析 | 第60-64页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第64页 |
