复杂环境下阵列幅相误差的校正
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第1章 绪论 | 第7-12页 |
·研究背景及意义 | 第7页 |
·阵列校正的发展及研究现状 | 第7-11页 |
·本文的主要工作及内容安排 | 第11-12页 |
第2章 阵列误差校正的基础知识 | 第12-18页 |
·阵列信号处理的数学模型 | 第12-14页 |
·阵列误差及其建模 | 第14-16页 |
·MUSIC算法原理 | 第16-17页 |
·本章小结 | 第17-18页 |
第3章 经典的天线阵列自校正算法 | 第18-42页 |
·自校正算法的原理 | 第18-23页 |
·自校正算法对均匀圆阵的校正性能及其仿真分析 | 第23-28页 |
·自校正算法对均匀线阵的缺陷及其改进 | 第28-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第4章 多径环境下基于极大似然准则的自校正算法 | 第42-52页 |
·极大似然准则的超分辨测角原理 | 第42-43页 |
·基于极大似然准则的自校正算法 | 第43-47页 |
·算法的计算机仿真及性能分析 | 第47-51页 |
·本章小结 | 第51-52页 |
第5章 色噪声背景下基于高阶累积量的自校正算法 | 第52-63页 |
·高阶累积量的基本理论 | 第52-54页 |
·基于四阶累积量的自校正算法 | 第54-58页 |
·算法的计算机仿真及性能分析 | 第58-61页 |
·本章小结 | 第61-63页 |
结论 | 第63-65页 |
参考文献 | 第65-69页 |
攻读学位期间所发表的学术论文 | 第69-71页 |
致谢 | 第71页 |