| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-17页 |
| ·课题背景和意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-16页 |
| ·绝缘子劣化机理 | 第9页 |
| ·绝缘子串周围电场分布特性 | 第9-11页 |
| ·绝缘子劣化非接触式检测方法 | 第11-16页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 2 试验设备与方法 | 第17-22页 |
| ·试品 | 第17-18页 |
| ·试验装置与试验原理接线 | 第18-20页 |
| ·试验研究方法 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 3 电场分布测量法的研究 | 第22-48页 |
| ·瓷质悬式绝缘子串的电场性质及其计算原理 | 第22-26页 |
| ·瓷质绝缘子串周围的空间电场 | 第22-24页 |
| ·静电场的有限元仿真计算原理 | 第24-26页 |
| ·瓷质悬式绝缘子串空间电场的仿真计算模型 | 第26-30页 |
| ·开区域问题的仿真模拟 | 第26-27页 |
| ·悬浮电位的仿真模拟 | 第27-28页 |
| ·金具、导线、杆塔的仿真模拟 | 第28-30页 |
| ·瓷质悬式绝缘子串的电场分布及其分析 | 第30-39页 |
| ·瓷绝缘子串的电场分布仿真结果 | 第30-36页 |
| ·劣化绝缘子对悬垂串空间电场分布的影响 | 第36-38页 |
| ·仿真结果与试验结果比较 | 第38-39页 |
| ·基于敏感绝缘子的电场分布测量法 | 第39-44页 |
| ·绝缘子型式和污秽对电场分布测量法的影响 | 第44-45页 |
| ·基于敏感绝缘子的电场分布测量法的可行性分析 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 4 红外与紫外成像检测法的研究 | 第48-65页 |
| ·红外成像检测法的研究 | 第48-57页 |
| ·红外成像法检测劣化绝缘子的理论分析 | 第48-49页 |
| ·红外成像法的试验结果及其分析 | 第49-53页 |
| ·红外成像法检测劣化绝缘子的影响因素分析 | 第53-57页 |
| ·紫外成像检测法的研究 | 第57-62页 |
| ·紫外成像法检测劣化绝缘子的理论分析 | 第57-58页 |
| ·紫外成像法的试验结果及其分析 | 第58-61页 |
| ·紫外成像法检测劣化绝缘子的影响因素分析 | 第61-62页 |
| ·瓷质劣化绝缘子的综合检测方法 | 第62-64页 |
| ·综合检测方法的使用设备与条件 | 第62-63页 |
| ·综合检测方法的检测程序 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 5 结论 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 附录：A. 作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第71页 |
| B. 作者在攻读硕士学位期间参与的科研项目目录及获得的奖励 | 第71页 |