| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 缩略词表 | 第11-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-37页 |
| 1.1 扫频OCT技术研究进展 | 第13-23页 |
| 1.1.1 OCT原理 | 第14-15页 |
| 1.1.2 扫频光源技术 | 第15-20页 |
| 1.1.3 光路技术 | 第20-21页 |
| 1.1.4 探头技术 | 第21-23页 |
| 1.2 扫频OCT系统的发展 | 第23-27页 |
| 1.2.1 扫频OCT系统性能 | 第23-25页 |
| 1.2.2 数据采集与处理 | 第25页 |
| 1.2.3 扫频OCT系统应用 | 第25-27页 |
| 1.3 本文研究工作意义与主要内容 | 第27-28页 |
| 1.3.1 论文研究工作意义 | 第27页 |
| 1.3.2 论文研究内容与安排 | 第27-28页 |
| 参考文献 | 第28-37页 |
| 第二章 扫频OCT试验系统与性能分析 | 第37-55页 |
| 2.1 扫频OCT试验系统性能指标 | 第37-42页 |
| 2.1.1 扫频OCT机理 | 第37-38页 |
| 2.1.2 扫频OCT系统性能分析 | 第38-42页 |
| 2.2 光源波长、带宽对系统轴向分辨率及成像深度的影响 | 第42-44页 |
| 2.2.1 光源对系统轴向分辨率的影响 | 第42-43页 |
| 2.2.2 光源对系统成像深度的影响 | 第43-44页 |
| 2.3 扫频OCT系统成像速度分析 | 第44-46页 |
| 2.3.1 扫频OCT系统成像时间分析 | 第44页 |
| 2.3.2 扫描速率对成像速度的影响 | 第44-45页 |
| 2.3.3 扫频OCT系统时序与K空间信号的关系 | 第45-46页 |
| 2.4 扫频OCT试验系统 | 第46-52页 |
| 2.4.1 系统结构 | 第46-47页 |
| 2.4.2 干涉光路结构 | 第47-49页 |
| 2.4.3 信号接收与处理 | 第49-51页 |
| 2.4.4 实验结果 | 第51-52页 |
| 2.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
| 第三章 光源对扫频OCT系统性能影响试验研究 | 第55-73页 |
| 3.1 Insight光源(SLE-101-1310、SLE-101-1550) | 第55-63页 |
| 3.1.1 Insight光源的工作原理 | 第55-57页 |
| 3.1.2 光源的性能指标 | 第57-61页 |
| 3.1.3 光源性能测试 | 第61-63页 |
| 3.2 Axsun-SSOCT-1310光源模块 | 第63-64页 |
| 3.3 光源对扫频OCT系统性能对比试验与结果分析 | 第64-71页 |
| 3.3.1 光源波长、带宽与系统轴向分辨率、成像深度的关系 | 第65-66页 |
| 3.3.2 不同光源功率对系统SNR的影响 | 第66-67页 |
| 3.3.3 不同探测深度对系统SNR的影响 | 第67-68页 |
| 3.3.4 不同光源谱型对系统SNR的影响 | 第68-71页 |
| 3.4 本章小结 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-73页 |
| 第四章 无源光器件对扫频OCT系统性能影响分析与试验研究 | 第73-93页 |
| 4.1 无源光器件谱特性及其对扫频OCT系统性能影响研究 | 第73-76页 |
| 4.1.1 耦合器 | 第73-74页 |
| 4.1.2 环形器 | 第74-75页 |
| 4.1.3 偏振控制器 | 第75-76页 |
| 4.2 扫频OCT系统中无源光器件波长相关性综合数字补偿算法 | 第76-86页 |
| 4.2.1 综合补偿算法 | 第76-78页 |
| 4.2.2 综合数字补偿算法仿真分析 | 第78-82页 |
| 4.2.3 综合数字补偿算法试验分析 | 第82-86页 |
| 4.3 扫频OCT片上集成光路研究 | 第86-91页 |
| 4.3.1 合波/分波器结构设计 | 第86-87页 |
| 4.3.2 合波/分波器仿真分析 | 第87-90页 |
| 4.3.3 全光路集成化设计初探 | 第90-91页 |
| 4.4 本章小结 | 第91-92页 |
| 参考文献 | 第92-93页 |
| 第五章 探头与扫频OCT系统性能影响分析与试验研究 | 第93-109页 |
| 5.1 单探头扫频OCT系统结构与性能分析 | 第93-98页 |
| 5.1.1 单模光纤探头 | 第94-97页 |
| 5.1.2 介质圆柱体检测 | 第97-98页 |
| 5.2 双探头平行探测扫频OCT系统 | 第98-102页 |
| 5.2.1 探测原理 | 第98-100页 |
| 5.2.2 理论分析 | 第100-101页 |
| 5.2.3 试验结果及对成像速度改善的分析 | 第101-102页 |
| 5.3 平面光波光路(PLC)芯片检测 | 第102-106页 |
| 5.3.1 试验装置 | 第102-104页 |
| 5.3.2 试验结果分析 | 第104-106页 |
| 5.4 本章小结 | 第106-107页 |
| 参考文献 | 第107-109页 |
| 总结与展望 | 第109-113页 |
| 致谢 | 第113-115页 |
| 攻读博士学位期间完成的科研成果 | 第115-117页 |
| 发表的论文 | 第115页 |
| 发明专利 | 第115-117页 |
| 表格索引 | 第117-119页 |
| 图形索引 | 第119-123页 |
