| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 研究的目的和意义 | 第10-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-15页 |
| 1.2.1 污秽度测定方法现状 | 第14-15页 |
| 1.3 本文研究的主要内容 | 第15-17页 |
| 第2章 绝缘子污秽闪络特性 | 第17-27页 |
| 2.1 绝缘子的污闪过程 | 第17-18页 |
| 2.1.1 绝缘子表面积污 | 第17页 |
| 2.1.2 绝缘子污层受潮 | 第17页 |
| 2.1.3 绝缘子表面的干燥带形成 | 第17-18页 |
| 2.1.4 局部电弧的形成发生绝缘子沿面闪络 | 第18页 |
| 2.2 绝缘子污秽的常见种类及成分 | 第18-19页 |
| 2.3 绝缘子的污闪机理与模型 | 第19-20页 |
| 2.4 绝缘子污秽分级 | 第20-22页 |
| 2.5 绝缘子人工污秽试验的方法介绍 | 第22-26页 |
| 2.6 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 泄漏电流信号去噪 | 第27-33页 |
| 3.1 泄漏电流信号去噪的意义 | 第27页 |
| 3.2 泄漏电流信号去噪的研究现状 | 第27-30页 |
| 3.2.1 绝缘子的泄漏电流去噪 | 第27-28页 |
| 3.2.2 基于自适应对消的泄漏电流去噪。 | 第28页 |
| 3.2.3 基于小波变换的泄漏电流去噪 | 第28-30页 |
| 3.3 泄漏电流波形去噪仿真实验 | 第30-32页 |
| 3.4 总结 | 第32-33页 |
| 第4章 绝缘子泄漏电流特征量分析 | 第33-39页 |
| 4.1 泄漏电流最大值 | 第33-35页 |
| 4.1.1 盐密对泄漏电流最大值的影响 | 第33-34页 |
| 4.1.2 相对湿度对泄漏电流最大值的影响 | 第34-35页 |
| 4.2 泄漏电流最大值、相对湿度和盐密三者之间的关系 | 第35-37页 |
| 4.3 泄漏电流的3次谐波与基波幅值比与相对湿度的关系 | 第37页 |
| 4.4 本章小结 | 第37-39页 |
| 第5章 泄漏电流绝缘子的RBF神经网络故障诊断模型 | 第39-47页 |
| 5.1 模型概述 | 第39-41页 |
| 5.2 创建模型 | 第41-46页 |
| 5.2.1 基于RBF神经网络泄漏电流绝缘子的故障诊断模型 | 第41-42页 |
| 5.2.2 RBF径向基神经网络参量的选取 | 第42页 |
| 5.2.3 传递参数的设定 | 第42-43页 |
| 5.2.4 网络性能分析 | 第43-46页 |
| 5.3 本章小结 | 第46-47页 |
| 第6章 结论与展望 | 第47-50页 |
| 6.1 全文总结 | 第47-48页 |
| 6.2 展望与启示 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-54页 |
| 致谢 | 第54页 |
