| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 引言 | 第10-23页 |
| 1.1 选题依据及目的意义 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究现状调研 | 第12-22页 |
| 1.3 主要研究的内容 | 第22-23页 |
| 第2章 理论基础及辐射装置 | 第23-31页 |
| 2.1 计量学基础 | 第23-24页 |
| 2.1.1 量值传递和量值溯源 | 第23-24页 |
| 2.1.2 检定和校准 | 第24页 |
| 2.2 X射线辐射计量 | 第24-27页 |
| 2.2.1 X射线的产生与测量 | 第24-26页 |
| 2.2.2 空气比释动能 | 第26-27页 |
| 2.3 中能X射线辐射装置 | 第27-31页 |
| 2.3.1 X射线光机 | 第27-28页 |
| 2.3.2 X射线滤过系统 | 第28页 |
| 2.3.3 中能X射线基准电离室 | 第28-31页 |
| 第3章 环境水平X射线参考辐射质的建立 | 第31-44页 |
| 3.1 光机固有过滤 | 第32-36页 |
| 3.2 半值层测量 | 第36-41页 |
| 3.3 辐射束规范测量结果 | 第41-44页 |
| 3.3.1 环境水平X射线辐射质规范 | 第41页 |
| 3.3.2 X射线有效能量 | 第41-44页 |
| 第4章 X射线能谱测量与研究 | 第44-58页 |
| 4.1 X射线能谱测量系统 | 第44-47页 |
| 4.2 能量刻度 | 第47-49页 |
| 4.3 脉冲高度谱的测量 | 第49-52页 |
| 4.4 解谱技术的初步研究 | 第52-58页 |
| 4.4.1 注量谱 | 第52-53页 |
| 4.4.2 响应矩阵 | 第53-58页 |
| 第5章 X射线空气比释动能量值复现 | 第58-70页 |
| 5.1 量值复现原理和方法 | 第58页 |
| 5.2 微弱电离电流测量系统 | 第58-59页 |
| 5.3 修正因子的测量 | 第59-68页 |
| 5.3.1 空气衰减修正k_a | 第60-62页 |
| 5.3.2 复合损失修正k_s | 第62-64页 |
| 5.3.3 前壁穿透修正k_p | 第64-65页 |
| 5.3.4 极性修正k_(pol) | 第65-66页 |
| 5.3.5 电子损失k_e、荧光散射k_(sc)k_(fl) | 第66-67页 |
| 5.3.6 修正因子汇总 | 第67-68页 |
| 5.4 空气比释动能量值复现 | 第68-70页 |
| 第6章 环境水平X射线空气比释动能量值传递 | 第70-78页 |
| 6.1 原理和方法 | 第70页 |
| 6.2 标准电离室的刻度 | 第70-73页 |
| 6.2.1 CCRI辐射质下电离室的刻度 | 第70-72页 |
| 6.2.2 环境水平辐射质下电离室的刻度 | 第72-73页 |
| 6.2.3 两种方法的结果比较 | 第73页 |
| 6.3 TW32002电离室在4米出值 | 第73页 |
| 6.4 TW32003电离室的校准 | 第73-75页 |
| 6.5 高气压电离室的校准 | 第75-78页 |
| 第7章 空气比释动能到剂量当量的转换和不确定度分析 | 第78-94页 |
| 7.1 当量剂量和剂量当量的关系 | 第78-80页 |
| 7.2 转换系数 | 第80-86页 |
| 7.2.1 经验公式测量方法 | 第80-83页 |
| 7.2.2 能谱测量方法 | 第83-86页 |
| 7.3 剂量当量仪表的校准 | 第86-89页 |
| 7.3.1 Thermo Scientific FHT 192电离室的校准 | 第86-88页 |
| 7.3.2 451P电离室的校准 | 第88-89页 |
| 7.4 不确定度分析 | 第89-94页 |
| 7.4.1 空气比释动能不确定度分析 | 第89-92页 |
| 7.4.2 传递电离室刻度因子不确定度分析 | 第92-94页 |
| 结论 | 第94-96页 |
| 致谢 | 第96-97页 |
| 参考文献 | 第97-102页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第102页 |