| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 选题研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 半透明介质辐射特性测量方法研究现状 | 第11-17页 |
| 1.2.1 常温半透明介质光谱辐射特性测量方法研究现状 | 第11-15页 |
| 1.2.2 变温半透明介质光谱辐射特性测量与分析方法研究现状 | 第15-17页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第17-20页 |
| 2 粉体材料辐射特性测量方法 | 第20-27页 |
| 2.1 粉体材料的辐射传输模型及求解方法 | 第20-22页 |
| 2.1.1 辐射传输模型 | 第20-21页 |
| 2.1.2 辐射传输方程求解方法 | 第21-22页 |
| 2.2 反演方法 | 第22-23页 |
| 2.3 修正模型 | 第23-26页 |
| 2.3.1 多层介质模型原理 | 第23-25页 |
| 2.3.2 本文的修正模型 | 第25-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 3 粉体材料辐射特性测量实验系统 | 第27-39页 |
| 3.1 粉体材料光谱测量系统 | 第27-35页 |
| 3.1.1 中红外波段变温工况下辐射特性测量系统 | 第27-34页 |
| 3.1.2 紫外-近红外波段常温工况下辐射特性测量系统 | 第34-35页 |
| 3.2 样品制备 | 第35-37页 |
| 3.3 本章小结 | 第37-39页 |
| 4 粉体材料辐射特性测量方法可行性验证 | 第39-51页 |
| 4.1 变温工况下加热片的选取及中红外波段测量系统的可靠性验证 | 第39-46页 |
| 4.1.1 陶瓷加热片的选取 | 第39-42页 |
| 4.1.2 变温工况下陶瓷加热片以及固体氧化铝的辐射特性测量及修正 | 第42-44页 |
| 4.1.3 变温工况下中红外测量系统可靠性验证 | 第44-46页 |
| 4.2 支撑层修正模型可行性验证 | 第46-50页 |
| 4.2.1 变温工况下溴化钾窗片以及三层结构样品辐射特性测量及修正 | 第46-49页 |
| 4.2.2 支撑层修正模型验证 | 第49-50页 |
| 4.3 本章小结 | 第50-51页 |
| 5 粉体材料辐射特性测量结果分析研究 | 第51-70页 |
| 5.1 全波段常温工况实验结果分析 | 第51-60页 |
| 5.1.1 不同求解方法对比分析 | 第51-53页 |
| 5.1.2 不同堆积厚度对比分析 | 第53-55页 |
| 5.1.3 不同粒径对比分析 | 第55-58页 |
| 5.1.4 固体与粉体对比分析 | 第58-60页 |
| 5.2 中红外波段高温工况实验结果分析 | 第60-69页 |
| 5.2.1 不同温度对比分析 | 第60-62页 |
| 5.2.2 不同堆积厚度对比分析 | 第62-64页 |
| 5.2.3 不同粒径对比分析 | 第64-67页 |
| 5.2.4 固体与粉体对比分析 | 第67-69页 |
| 5.3 本章小结 | 第69-70页 |
| 6 结论 | 第70-73页 |
| 6.1 全文总结 | 第70-71页 |
| 6.2 本文创新 | 第71页 |
| 6.3 研究展望 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |
| 附录 | 第78页 |
